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集成二维多光栅光谱成像系统的研制及其应用

论文摘要第1-8页
ABSTRACT第8-10页
第一章 绪论第10-22页
 §1.1 光谱仪器的发展与应用第10-16页
     ·光谱仪器的发展第11-12页
     ·现代光谱分析系统的分类第12-14页
     ·光谱仪器的应用范围第14-16页
 §1.2 本文工作的研究目的和意义第16-20页
     ·课题的可行性及背景第16-18页
     ·课题的意义、目的第18页
     ·课题的创新点第18-20页
 参考文献:第20-22页
第二章:光谱分析的基本元件简介第22-48页
 §2.1 衍射光栅的基本工作原理第22-33页
     ·衍射光栅的发展史和分类第22-23页
     ·反射衍射光栅基本方程:第23-24页
     ·衍射光栅的色散第24-26页
     ·光谱线的级数第26-27页
     ·闪耀光栅第27-28页
     ·利托结构(Littrow Condition)第28页
     ·光栅效率第28-29页
     ·杂散光第29-30页
     ·光栅的高分辨及其相关问题第30-33页
 §2.2 线阵面阵固体探测器第33-38页
     ·基本原理第33-36页
     ·前照式(Front Illminated)CCD:第36-37页
     ·背照式(Back Illminated)CCD:第37页
     ·修饰栅级(open Electrode)CCD:第37-38页
 §2.3 滤波元件的作用第38-39页
 §2.4 实验光谱系统的基本结构第39-46页
     ·Fastie-Ebert结构第40页
     ·Czerny-Turner(C-T)结构第40-41页
     ·数值孔径第41-43页
     ·分辨率和带宽第43-45页
     ·阵列探测器象数点位置与波长的关系第45-46页
 参考文献:第46-48页
第三章:新型面阵式CCD探测器型多光栅单色仪第48-61页
 §3.1 引言第48-49页
 §3.2 实验原理第49-55页
     ·闪耀光栅第49-50页
     ·CCD探测器第50-51页
     ·光学系统第51-55页
 §3.3 光谱仪实现与结果分析第55-59页
     ·光谱测量第55-56页
     ·光谱分析与信号处理第56-59页
 §3.4 结论第59-60页
 参考文献:第60-61页
第四章:多光栅集成结构的高分辨快速红外光谱仪研究第61-96页
 §4.1 研究背景第61-67页
     ·DWDM技术简介第61-64页
     ·高性能光学薄膜的制备第64-67页
 §4.2 光学系统第67-72页
     ·原理第67-69页
     ·光学系统第69-72页
 §4.3 数据采集第72-79页
     ·多道探测器第72-75页
     ·数据采集卡第75-76页
     ·软件分析第76-79页
 §4.4 结果与讨论第79-93页
     ·谱线定标与谱线测量第79-83页
     ·分辨本领与分析第83-88页
     ·像差讨论第88-93页
 §4.5 结论第93-94页
 参考文献:第94-96页
第五章:两种光谱仪在椭圆偏振和DWDM薄膜生长监控中的应用第96-119页
 §5.1 CCD椭圆偏振光谱仪第96-111页
     ·系统的光路及其控制结构第96-101页
     ·系统的光路及其机械部分的建立第101-109页
     ·系统的定标测量与讨论分析第109-111页
     ·结论第111页
 §5.2 实时监控镀膜仪第111-117页
     ·原位光谱监控方法的薄膜生长系统第112-113页
     ·AFDS-1100高性能薄膜生张系统第113-115页
     ·薄膜生长的监控过程第115-116页
     ·结论第116-117页
 参考文献:第117-119页
第六章:结论第119-121页
附录一:第121-123页
附录二:第123-128页
附录三:第128-135页
致谢第135-136页

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