| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·石英晶片及其参数测量和分选 | 第7-8页 |
| ·虚拟仪器 | 第8-9页 |
| ·课题的研究意义 | 第9-10页 |
| ·论文研究的主要内容以及论文结构 | 第10-12页 |
| 第二章 石英晶片电参数测量理论基础及虚拟仪器技术 | 第12-29页 |
| ·石英晶片电参数测量的理论基础 | 第12-24页 |
| ·石英晶体电参数等效模型 | 第12-18页 |
| ·石英晶片电参数测量的实际等效电参数模型 | 第18-19页 |
| ·主要电参数测量方法 | 第19-24页 |
| ·虚拟仪器 | 第24-28页 |
| ·虚拟仪器的发展、概念及其特点 | 第24-26页 |
| ·虚拟仪器的构成 | 第26页 |
| ·虚拟仪器软件的开发环境简介 | 第26-27页 |
| ·虚拟仪器的特点及发展趋势 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 系统总体结构与开发关键技术分析 | 第29-40页 |
| ·系统分析与设计原则 | 第29-30页 |
| ·系统要实现的功能及应达到的性能 | 第29页 |
| ·系统设计原则 | 第29-30页 |
| ·系统总体结构与系统工作过程 | 第30-33页 |
| ·系统总体结构 | 第30-32页 |
| ·基于虚拟仪器的软件系统组成 | 第32页 |
| ·系统的工作过程 | 第32-33页 |
| ·系统设计关键技术分析 | 第33-39页 |
| ·激励信号源 | 第33-34页 |
| ·高速电路设计 | 第34-35页 |
| ·宽频带正弦信号有效值测量 | 第35-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第四章 石英晶片电参数测量分选系统的硬件设计与分析 | 第40-49页 |
| ·基于DDS芯片AD9851的激励信号源 | 第40-41页 |
| ·AD9851的特点及其控制方式 | 第40页 |
| ·与微控制器的接口 | 第40-41页 |
| ·输出信号的驱动与放大 | 第41页 |
| ·通信接口设计 | 第41-44页 |
| ·端口地址及其译码电路 | 第41-43页 |
| ·通信协议的设计 | 第43-44页 |
| ·上料、下料模块的硬件设计 | 第44-45页 |
| ·PWM调制实现上料震动 | 第44-45页 |
| ·8253实现震动送料器控制电压波形 | 第45页 |
| ·分选控制器硬件设计 | 第45-47页 |
| ·步进电机驱动与定位 | 第45-46页 |
| ·电磁铁线圈控制 | 第46-47页 |
| ·定位与计数电路 | 第47页 |
| ·微控制器软件设计 | 第47-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第五章 基于虚拟仪器的石英晶片电参数测量分选系统软件设计 | 第49-58页 |
| ·虚拟仪器软件设计概要 | 第49-52页 |
| ·虚拟仪器软件设计 | 第49-50页 |
| ·利用VC++面向对象和组件技术的虚拟仪器软件开发技术 | 第50-52页 |
| ·系统软件设计及关键技术 | 第52-57页 |
| ·系统软件的结构框架与软件功能 | 第52-53页 |
| ·系统软件设计关键技术 | 第53-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第六章 系统可靠性设计与系统性能分析 | 第58-71页 |
| ·系统可靠性分析与设计 | 第58-63页 |
| ·硬件系统可靠性设计 | 第58-61页 |
| ·微控制器软件的可靠性设计 | 第61-63页 |
| ·系统性能分析 | 第63-71页 |
| ·测量精度与测试数据分析 | 第63-64页 |
| ·测量一致性问题分析 | 第64-71页 |
