基于PCI总线的控制分组件测试系统的硬件研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题来源及意义 | 第8页 |
| ·国内外同类可利用资源开发状况 | 第8-9页 |
| ·研制测试系统所需的关键技术 | 第9页 |
| ·本论文的研究内容和预期目标 | 第9-10页 |
| ·论文结构安排 | 第10-12页 |
| 第二章 控制分组件测试系统概述 | 第12-17页 |
| ·测试系统的硬件组成 | 第12-13页 |
| ·测试原理 | 第13页 |
| ·测试项目 | 第13-14页 |
| ·测试系统核心模块的功能 | 第14-15页 |
| ·BMK接口板的性能要求与技术指标 | 第14页 |
| ·并行数据记录板的性能要求与技术指标 | 第14-15页 |
| ·A/D转换接口板的性能要求与技术指标 | 第15页 |
| ·电源监控板的性能要求与技术指标 | 第15页 |
| ·本章小结 | 第15-17页 |
| 第三章 测试系统的设计方法与关键技术 | 第17-46页 |
| ·EDA技术及其优点 | 第17-18页 |
| ·TOP-DOWN的设计方法 | 第18-20页 |
| ·VHDL语言编程技术 | 第20-21页 |
| ·FPGA和CPLD技术 | 第21-28页 |
| ·FPGA与CPLD的特点 | 第21-22页 |
| ·FPGA与CPLD的比较与选型 | 第22-26页 |
| ·FPGA与CPLD的比较 | 第22-24页 |
| ·FLEX 10K的内部结构及特点 | 第24-25页 |
| ·FPGA与CPLD的选型 | 第25-26页 |
| ·用EDA方法开发FPGA与CPLD的工作流程 | 第26-28页 |
| ·用EDA方法开发FPGA与CPLD的注意事项 | 第28页 |
| ·PCI局部总线技术 | 第28-41页 |
| ·PCI总线的发展背景 | 第30页 |
| ·PCI总线的特点 | 第30-33页 |
| ·PCI总线与其它扩展总线的比较 | 第33-34页 |
| ·PCI总线传输协议 | 第34-40页 |
| ·PCI总线信号定义 | 第34-35页 |
| ·PCI总线命令与寻址 | 第35-36页 |
| ·基本传输控制 | 第36页 |
| ·总线驱动与过渡 | 第36-37页 |
| ·读写操作 | 第37-38页 |
| ·PCI总线配置空间 | 第38-40页 |
| ·PCI总线的开发目标及发展趋势 | 第40-41页 |
| ·测试系统的开发工具 | 第41-44页 |
| ·MAX+PlusⅡ开发工具 | 第41-42页 |
| ·Active-HDL开发工具 | 第42-44页 |
| ·Protel电子电路设计软件 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 PCI接口逻辑的设计 | 第46-68页 |
| ·PCI总线接口电路的组成 | 第46-47页 |
| ·PCI总线接口逻辑的实现途径 | 第47-50页 |
| ·采用专用芯片进行设计 | 第48页 |
| ·采用IPcore进行设计 | 第48-49页 |
| ·采用PLD可编程逻辑器件进行设计 | 第49-50页 |
| ·用PLD设计PCI接口逻辑 | 第50-57页 |
| ·逻辑简化 | 第50页 |
| ·PCI总线的传输过程 | 第50-51页 |
| ·PCI接口逻辑的具体实现 | 第51-57页 |
| ·地址锁存与命令锁存 | 第51页 |
| ·地址译码与命令译码 | 第51-52页 |
| ·状态机设计 | 第52-54页 |
| ·配置操作 | 第54-55页 |
| ·控制信号产生 | 第55-57页 |
| ·奇偶校验 | 第57页 |
| ·PCI接口逻辑的仿真与调试 | 第57-67页 |
| ·时序仿真 | 第57-64页 |
| ·功能测试及其原理 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 测试系统硬件接口板的研制 | 第68-93页 |
| ·BMK接口板的设计 | 第68-82页 |
| ·BMK接口板的功能 | 第68-69页 |
| ·BMK接口板的组成 | 第69-72页 |
| ·发送电路 | 第70-71页 |
| ·接收电路 | 第71-72页 |
| ·BMK接口板的逻辑设计 | 第72-82页 |
| ·发送逻辑的设计 | 第72-75页 |
| ·接收逻辑的设计 | 第75-77页 |
| ·FIFO的设计与实现 | 第77-79页 |
| ·自检电路原理 | 第79页 |
| ·其它逻辑的设计 | 第79-80页 |
| ·BMK接口板的仿真与调试 | 第80-82页 |
| ·并行数据记录板的设计 | 第82-88页 |
| ·并行数据记录板的功能 | 第83页 |
| ·并行数据记录板的组成 | 第83页 |
| ·并行数据记录板的逻辑设计 | 第83-86页 |
| ·并行数据记录板的仿真与调试 | 第86-88页 |
| ·电源监控板的双口RAM的设计 | 第88-89页 |
| ·测试系统的硬件实现 | 第89-92页 |
| ·测试系统的设计结果 | 第89-92页 |
| ·芯片资源利用率分析 | 第92页 |
| ·本章小结 | 第92-93页 |
| 第六章 总结与展望 | 第93-95页 |
| 致谢 | 第95-96页 |
| 参考文献 | 第96-98页 |
