| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-29页 |
| 第二章 利用Ar~+激光器多波长的中心亮点测量表面粗糙度 | 第29-37页 |
| 2．1 引言 | 第29页 |
| 2．2 理论分析 | 第29-34页 |
| 2．3 实验测量及结果 | 第34-37页 |
| 第三章 随机散射屏的AFM形貌分析及其光散射特性的研究 | 第37-50页 |
| 3．1 引言 | 第37-38页 |
| 3．2 随机散射屏的AFM形貌测量及其特性的描述与分析 | 第38-43页 |
| 3．3 随机散射屏的光散射特性 | 第43-46页 |
| 3．4 散射轮廓按负幂函数下降的理论解释 | 第46-48页 |
| 3．5 结论 | 第48-50页 |
| 第四章 自仿射分形随机表面光散射特性的计算模拟 | 第50-60页 |
| 4．1 引言 | 第50-51页 |
| 4．2 自仿射分形表面的模拟产生 | 第51-53页 |
| 4．3 自仿射分形表面光散射的模拟与结果分析 | 第53-60页 |
| 第五章 高斯相关表面及其散斑场的模拟产生和光强概率分析 | 第60-72页 |
| 5．1 引言 | 第60-61页 |
| 5．2 高斯相关随机表面及其散斑场的模拟产生 | 第61-63页 |
| 5．3 散斑光强的概率密度分析 | 第63-70页 |
| 5．4 结论 | 第70-72页 |
| 第六章 少数散射颗粒产生的散斑场的片状结构 | 第72-82页 |
| 6．1 引言 | 第72页 |
| 6．2 散斑片状结构及其特性的计算模拟与实验观察 | 第72-78页 |
| 6．3 散斑片状结构成因的等倾基元模型 | 第78-80页 |
| 6．4 结论 | 第80-82页 |
| 第七章 随机表面光散射显微术及其计算机模拟 | 第82-89页 |
| 7．1 引言 | 第82-83页 |
| 7．2 随机表面的模拟产生 | 第83-85页 |
| 7．3 光强的位相恢复与表面高度再现 | 第85-89页 |
| 发表的论文 | 第89-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
