| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-19页 |
| §1.1 气敏传感器研究概况 | 第7页 |
| §1.2 纳米气敏传感器研究现状 | 第7-9页 |
| §1.3 Cr_2O_3和CuO气敏传感器研究现状 | 第9-12页 |
| §1.4 表面光电压技术 | 第12-15页 |
| §1.4.1 表面光电压技术的发展 | 第12-13页 |
| §1.4.2 表面光电压谱仪的构造 | 第13-14页 |
| §1.4.3 表面光电压技术应用于气敏测量的研究 | 第14-15页 |
| §1.5 本论文的研究思路及主要内容 | 第15-17页 |
| 参考文献 | 第17-19页 |
| 第二章 利用表面光电压技术研究Cr_2O_3纳米空心球的气敏特性 | 第19-29页 |
| §2.1 概述 | 第19-20页 |
| §2.2 实验 | 第20-21页 |
| §2.2.1 试剂与仪器 | 第20页 |
| §2.2.2 Cr_2O_3纳米空心球的制备 | 第20-21页 |
| §2.3 结果与讨论 | 第21-26页 |
| §2.3.1 SEM | 第21页 |
| §2.3.2 XRD | 第21-22页 |
| §2.3.3 TEM | 第22-23页 |
| §2.3.4 XPS | 第23-24页 |
| §2.3.5 Cr_2O_3纳米空心球的气敏特性分析 | 第24-26页 |
| §2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 参考文献 | 第27-29页 |
| 第三章 CuO纳米棒阵列制备和表面光电压技术研究气敏特性 | 第29-39页 |
| §3.1 概述 | 第29-30页 |
| §3.2 实验 | 第30页 |
| §3.2.1 试剂与仪器 | 第30页 |
| §3.2.2 实验步骤 | 第30页 |
| §3.3 结果与讨论 | 第30-36页 |
| §3.3.1 SEM | 第30-33页 |
| §3.3.2 XRD | 第33页 |
| §3.3.3 TEM | 第33-34页 |
| §3.3.4 CuO纳米棒阵列的气敏特性分析 | 第34-36页 |
| §3.4 本章小结 | 第36-38页 |
| 参考文献 | 第38-39页 |
| 第四章 结论和展望 | 第39-43页 |
| §4.1 主要结论 | 第39页 |
| §4.2 存在的问题 | 第39页 |
| §4.3 展望 | 第39-43页 |
| 硕士期间发表和已完成的工作 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44页 |
