| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-14页 |
| ·LED 概述 | 第9页 |
| ·LED 的发光原理 | 第9-10页 |
| ·LED 的发展历史 | 第10页 |
| ·WLED 的发光原理 | 第10-11页 |
| ·WLED 的优点及应用 | 第11-12页 |
| ·WLED 的发展前景 | 第12页 |
| ·本论文提出的意义及主要工作 | 第12-14页 |
| 第二章 文献综述 | 第14-27页 |
| ·发光材料的发光机理 | 第14页 |
| ·稀土元素的发光机理 | 第14-16页 |
| ·荧光粉的发光性能指标及检测方法 | 第16-17页 |
| ·YAG 荧光材料简介 | 第17-19页 |
| ·YAG 的微观结构 | 第17-18页 |
| ·YAG:Ce~(3+)的发光特性和光致发光机理 | 第18-19页 |
| ·YAG 荧光粉的制备方法简介 | 第19-24页 |
| ·高温固相反应法 | 第20页 |
| ·溶胶—凝胶法(Sol–Gel Method) | 第20-21页 |
| ·喷雾热解法 | 第21-22页 |
| ·燃烧法 | 第22页 |
| ·沉淀法 | 第22-23页 |
| ·共沉淀法 | 第22-23页 |
| ·均匀沉淀法 | 第23页 |
| ·水热和溶剂热合成法 | 第23-24页 |
| ·单一基质发白光荧光粉简介 | 第24-27页 |
| ·多离子掺杂的SMWP | 第24-25页 |
| ·单一离子掺杂的SMWP | 第25-27页 |
| 第三章 YAG:Ce~(3+)荧光粉的制备及性能测试 | 第27-44页 |
| ·实验部分 | 第27-28页 |
| ·实验药品 | 第27页 |
| ·实验仪器 | 第27-28页 |
| ·实验方法及步骤 | 第28页 |
| ·产品性能测试 | 第28-29页 |
| ·X 射线衍射测试 | 第28-29页 |
| ·荧光光谱测试 | 第29页 |
| ·结果与讨论 | 第29-44页 |
| ·纯YAG:Ce~(3+)荧光粉的物相分析和荧光分析 | 第29-31页 |
| ·三价基质阳离子取代对YAG:Ce~(3+)发光性能的影响 | 第31-39页 |
| ·Gd~(3+)取代对YAG:Ce~(3+)荧光粉荧光光谱的影响 | 第31-33页 |
| ·La~(3+)取代对YAG:Ce~(3+)荧光粉荧光光谱的影响 | 第33-35页 |
| ·Tb~(3+)取代对YAG:Ce~(3+)荧光粉荧光光谱的影响 | 第35-36页 |
| ·Sm~(3+)取代对YAG:Ce~(3+)荧光粉荧光光谱的影响 | 第36-37页 |
| ·Lu~(3+)取代对YAG:Ce~(3+)荧光粉荧光光谱的影响 | 第37-39页 |
| ·二价基质阳离子Sr2+、Ba2+取代对YAG:Ce~(3+)发光性能的影响 | 第39-42页 |
| ·混合基质阳离子取代对YAG:Ce~(3+)发光性能的影响 | 第42-44页 |
| 第四章 近紫外激发的Sr3RE2(BO3)4 :Dy~(3+)(RE=Y, La, Gd)荧光粉的制备及性能测试 | 第44-56页 |
| ·实验部分 | 第44-45页 |
| ·实验药品 | 第44页 |
| ·实验仪器 | 第44-45页 |
| ·实验方法及步骤 | 第45页 |
| ·产品性能测试 | 第45-46页 |
| ·X 射线衍射测试 | 第45页 |
| ·荧光光谱测试 | 第45-46页 |
| ·结果与讨论 | 第46-56页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第46-47页 |
| ·荧光光谱分析 | 第47-51页 |
| ·激发光谱 | 第47-48页 |
| ·发射光谱 | 第48-51页 |
| ·Dy~(3+)的浓度与Y/B 值积分强度比率的关系 | 第51-53页 |
| ·Dy~(3+)的浓度对4F9/2→6H13/2 (575nm) 跃迁的发射强度的影响 | 第53-54页 |
| ·Dy~(3+)的lg(I/x)和lgx 之间的关系 | 第54-56页 |
| 第五章 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
