MnGa薄膜的反常霍尔效应及测试研究

摘要	第4-5页
Abstract	第5-6页
1 绪论	第9-20页
1.1 引言	第9-10页
1.2 霍尔效应发现及其发展历程	第10-12页
1.3 反常霍尔效应理论研究及内在机理	第12-17页
1.4 MnGa薄膜研究现状及其应用	第17-18页
1.5 本论文主要研究内容与结构安排	第18-20页
2 反常霍尔效应测试及测试系统设计	第20-36页
2.1 反常霍尔效应电阻率公式推导	第20-23页
2.2 Van Der Pauw方法测试电阻率	第23-24页
2.3 硬件系统介绍及Labview程序设计	第24-32页
2.4 霍尔次生效应及样品结构对测试的影响	第32-33页
2.5 测试误差分析及测试系统修正	第33-35页
2.6 本章小结	第35-36页
3 MnGa单层膜的反常霍尔效应研究	第36-53页
3.1 MnGa薄膜的制备	第36-38页
3.2 退火温度对MnGa薄膜反常霍尔效应的影响	第38-39页
3.3 温度对MnGa薄膜反常霍尔效应的影响	第39-45页
3.4 Mn的含量对反常霍尔效应的影响研究	第45-49页
3.5 MnGa薄膜的磁性能与反常霍尔效应对比	第49-52页
3.6 本章小结	第52-53页
4 MnGa多层膜的反常霍尔效应研究	第53-58页
4.1 MnGa/Fe双层膜反常霍尔效应	第53-54页
4.2 MnGa/Fe/Cr三层膜的反常霍尔效应	第54-56页
4.3 本章小结	第56-58页
5 总结与展望	第58-60页
5.1 本文总结	第58-59页
5.2 本文研究展望	第59-60页
致谢	第60-62页
参考文献	第62-67页
附录Ⅰ 攻读学位期间发表的论文	第67-68页
附录Ⅱ Labview后面板程序	第68-70页