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单层硒化硅应变性能的第一性原理研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第1章 绪论第8-16页
    1.1 引言第8页
    1.2 磷烯及单硫族化合物的实验制备第8-10页
        1.2.1 磷烯的实验制备第9页
        1.2.2 SnSe晶体的实验制备第9-10页
        1.2.3 GeSe晶体的实验制备第10页
    1.3 磷烯及单硫族化合物的研究现状第10-14页
        1.3.1 磷烯的研究现状第10-11页
        1.3.2 单层SnSe研究现状第11-12页
        1.3.3 单层GeSe研究现状第12-13页
        1.3.4 黑磷其他方面研究第13-14页
    1.4 单层SiSe研究现状第14页
    1.5 本文研究主要内容第14-16页
第2章 理论基础和计算方法第16-21页
    2.1 第一性原理简介第16页
    2.2 密度泛函介绍第16-18页
        2.2.1 Hohenberg-Kohn定理第17页
        2.2.2 Kohn-Sham方程第17-18页
    2.3 交换关联泛函第18-19页
    2.4 范德瓦耳斯力第19-20页
    2.5 VASP软件包第20-21页
第3章 应变作用下单层硒化硅的电子结构研究第21-38页
    3.1 引言第21页
    3.2 计算方法与参数第21-22页
    3.3 计算结果和讨论第22-37页
        3.3.1 单层SiSe结构稳定性及电子性质第22-25页
        3.3.2 单层SiSe扶手型方向施加应变研究结果第25-28页
        3.3.3 单层SiSe锯齿型方向施加应变研究结果第28-31页
        3.3.4 单层SiSe双轴施加应变研究结果第31-37页
    3.4 小结第37-38页
第4章 总结与展望第38-40页
    4.1 本文总结第38页
    4.2 工作展望第38-40页
参考文献第40-46页
致谢第46-47页
个人简历、在学期间发表的学术论文及研究成果第47页

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