| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第12-13页 |
| 1.3 论文的内容及组织结构 | 第13-15页 |
| 第二章 忆阻器件的特性 | 第15-25页 |
| 2.1 忆阻器件的基本概念 | 第15-16页 |
| 2.2 忆阻器件的电流电压特性 | 第16-19页 |
| 2.3 忆阻器件的模型 | 第19-21页 |
| 2.4 忆阻器件的阻变机制 | 第21-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 基于忆阻器件的可重复擦写阻变存储器件 | 第25-37页 |
| 3.1 器件的结构与制备 | 第25-26页 |
| 3.2 器件的电学性能与研究 | 第26-32页 |
| 3.2.1 器件的存储特性测试与分析 | 第26-30页 |
| 3.2.2 器件的可靠性测试与分析 | 第30-32页 |
| 3.3 器件的抗辐照特性与研究 | 第32-36页 |
| 3.3.1 抗辐照实验方案 | 第32页 |
| 3.3.2 器件的抗辐照特性测试与分析 | 第32-36页 |
| 3.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 基于忆阻器件的只写一次阻变存储器件 | 第37-44页 |
| 4.1 器件的结构与制备 | 第37-39页 |
| 4.2 器件的电学性能与研究 | 第39-43页 |
| 4.2.1 器件的存储特性测试与分析 | 第39-42页 |
| 4.2.2 器件的可靠性测试与分析 | 第42-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 基于忆阻器件的ADC中的量化器 | 第44-57页 |
| 5.1 模数转换器简介 | 第44-46页 |
| 5.2 基于忆阻器件的ADC中的量化器设计 | 第46-50页 |
| 5.3 基于忆阻器件的ADC中的量化器仿真 | 第50-53页 |
| 5.3.1 忆阻器件的SPICE仿真模型 | 第50-52页 |
| 5.3.2 基于忆阻器件的ADC中的量化器仿真结果 | 第52-53页 |
| 5.4 基于忆阻器件的ADC中的量化器可行性验证 | 第53-56页 |
| 5.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第64-65页 |