有机薄膜光电特性在线测量方法的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 有机半导体材料 | 第9-11页 |
| 1.3 有机薄膜及其应用 | 第11-16页 |
| 1.3.1 有机薄膜的制备及生长 | 第11-14页 |
| 1.3.2 有机薄膜器件 | 第14-16页 |
| 1.4 有机薄膜的光电测量方法 | 第16-22页 |
| 1.4.1 有机薄膜的导电机理 | 第16-17页 |
| 1.4.2 有机薄膜电学特性的测量方法 | 第17-19页 |
| 1.4.3 有机薄膜光学特性的测量方法 | 第19-22页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第22-23页 |
| 第二章 光电测量系统 | 第23-40页 |
| 2.1 有机场效应晶体管 | 第23-27页 |
| 2.1.1 有机场效应晶体管的工作原理 | 第23-25页 |
| 2.1.2 有机场效应晶体管的基本参数 | 第25-27页 |
| 2.2 有机场效应晶体管的电学测量系统 | 第27-36页 |
| 2.2.1 电学结构的设计 | 第27-30页 |
| 2.2.2 软件部分的设计 | 第30-32页 |
| 2.2.3 测量数据的处理 | 第32-33页 |
| 2.2.4 离线测量和在线测量 | 第33-36页 |
| 2.3 有机薄膜的光学测量系统及改进 | 第36-38页 |
| 2.4 光电联合测试 | 第38-40页 |
| 第三章 样品结构的设计及制备 | 第40-46页 |
| 3.1 有机场效应晶体管的基本结构 | 第40-41页 |
| 3.2 样品结构的设计 | 第41-44页 |
| 3.2.1 前期的样品结构 | 第41-42页 |
| 3.2.2 改进的样品结构 | 第42-43页 |
| 3.2.3 当前的样品结构 | 第43-44页 |
| 3.3 样品的制备 | 第44-46页 |
| 第四章 实验及分析 | 第46-61页 |
| 4.1 电路系统的性能测试 | 第46-50页 |
| 4.2 样品的离线电学测量 | 第50-54页 |
| 4.3 样品的在线电学测量 | 第54-56页 |
| 4.3.1 真空中样品的特性 | 第54-55页 |
| 4.3.2 真空度对样品特性的影响 | 第55-56页 |
| 4.4 样品的光学测量 | 第56-59页 |
| 4.5 光电联合测试 | 第59-61页 |
| 第五章 总结与展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |