| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 1 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 概述 | 第11-16页 |
| 1.1.1 网络 RTK 技术的特点及应用 | 第11-15页 |
| 1.1.2 VRS 概念及定位原理 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外相关问题研究现状及发展前景 | 第16-19页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第19-20页 |
| 2 第二章 空间相关误差内插模型 | 第20-25页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 线性组合模型（Linear Combination Model ,LCM） | 第20-22页 |
| 2.3 基于距离的线性内插模型（Distance-based Linear Interpolation Model,DIM） | 第22页 |
| 2.4 线性内插模型（Linear Interpolation Model,LIM） | 第22-23页 |
| 2.5 低阶曲面拟合模型（Lower-Order Surface Model,LSM） | 第23-24页 |
| 2.6 小结 | 第24-25页 |
| 3 第三章 非空间相关误差源 | 第25-29页 |
| 3.1 引言 | 第25页 |
| 3.2 多路径误差 | 第25-26页 |
| 3.3 接收机观测噪声 | 第26-27页 |
| 3.4 天线载波相位中心偏差 | 第27-28页 |
| 3.5 小结 | 第28-29页 |
| 4 第四章 轨道误差改正数算法 | 第29-32页 |
| 4.1 引言 | 第29页 |
| 4.2 卫星星历 | 第29-30页 |
| 4.2.1 历书数据 | 第29页 |
| 4.2.2 广播星历 | 第29页 |
| 4.2.3 精密星历 | 第29-30页 |
| 4.3 ARS/VRS 轨道改进法 | 第30-31页 |
| 4.4 小结 | 第31-32页 |
| 5 第五章 电离层延迟改正数算法研究及精度分析 | 第32-52页 |
| 5.1 引言 | 第32-35页 |
| 5.1.1 大尺度行扰（LSTIDs） | 第33-34页 |
| 5.1.2 中小尺度行扰（MSTIDs） | 第34-35页 |
| 5.2 电离层延迟改正模型 | 第35-37页 |
| 5.2.1 单频电离层延迟改正模型 | 第35-36页 |
| 5.2.2 双频电离层延迟改正模型 | 第36-37页 |
| 5.3 参考站网络电离层延迟信息的提取 | 第37页 |
| 5.4 双差电离层延迟分析 | 第37-41页 |
| 5.4.1 实验一：双差天顶电离层延迟残差与基线长度之间变化关系 | 第38-40页 |
| 5.4.2 实验二：双差电离层延迟残差与卫星高度角之间变化关系 | 第40-41页 |
| 5.5 双差电离层延迟内插模型研究 | 第41-46页 |
| 5.6 电离层预报模型研究 | 第46-50页 |
| 5.6.1 试验一：MSTIDs 对长基线影响 | 第47-48页 |
| 5.6.2 实验二：MSTIDs 对短基线影响 | 第48-49页 |
| 5.6.3 实验三：预报周期的长短对模型精度的影响 | 第49-50页 |
| 5.7 小结 | 第50-52页 |
| 6 第六章 对流层延迟改正数算法研究及精度分析 | 第52-77页 |
| 6.1 引言 | 第52页 |
| 6.2 对流层延迟改正模型 | 第52-56页 |
| 6.2.1 改进的 Hopfield 模型 | 第52-54页 |
| 6.2.2 Saastamoinen 模型 | 第54-56页 |
| 6.3 参考站网络对流层延迟信息的提取 | 第56页 |
| 6.4 双差对流层延迟分析 | 第56-60页 |
| 6.4.1 实验一：双差对流层延迟残差与参考站高程差之间变化关系 | 第57-58页 |
| 6.4.2 实验二：双差对流层延迟残差与基线长度之间变化关系 | 第58-59页 |
| 6.4.3 实验三：双差对流层延迟残差与卫星高度角之间变化关系 | 第59-60页 |
| 6.5 双差对流层延迟内插模型研究 | 第60-64页 |
| 6.6 高程方向偏差分析 | 第64-66页 |
| 6.7 高程方向偏差修正模型研究 | 第66-75页 |
| 6.7.1 实验一 | 第68-70页 |
| 6.7.2 实验二 | 第70-73页 |
| 6.7.3 实验三 | 第73-75页 |
| 6.8 小结 | 第75-77页 |
| 7 第七章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 7.1 论文的主要工作及创新点 | 第77页 |
| 7.2 建议与展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 作者简历 | 第84页 |
