| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 辐射发射测量现状 | 第12-18页 |
| 1.2.1 辐射发射测量方法及判断标准 | 第12-17页 |
| 1.2.2 大尺寸电气设备辐射发射测量现状 | 第17-18页 |
| 1.3 研究目标 | 第18-19页 |
| 1.4 本文的内容结构 | 第19-20页 |
| 2 大尺寸电气设备辐射发射测量方法理论分析 | 第20-29页 |
| 2.1 辐射发射测试中的噪声分析 | 第20-21页 |
| 2.2 电磁屏蔽的基本原理 | 第21-24页 |
| 2.3 金属屏蔽箱体内的谐振现象 | 第24-25页 |
| 2.4 吸波材料的基本原理 | 第25-28页 |
| 2.4.1 吸波材料的分类 | 第25-26页 |
| 2.4.2 吸波材料的特性研究 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 非完全屏蔽箱体对噪声的衰减效果仿真分析 | 第29-45页 |
| 3.1 仿真模型的建立 | 第29-32页 |
| 3.1.1 驻波对测试结果的影响 | 第29-32页 |
| 3.1.2 建立完整的仿真模型 | 第32页 |
| 3.2 非完全屏蔽箱对噪声的衰减效果仿真 | 第32-37页 |
| 3.2.1 EUT与屏蔽箱体的距离对箱体噪声衰减效果的影响 | 第32-34页 |
| 3.2.2 噪声入射方向不同时非完全屏蔽箱体对噪声的衰减效果 | 第34-37页 |
| 3.3 改进的非完全屏蔽箱对噪声的衰减效果仿真 | 第37-43页 |
| 3.3.1 改进的屏蔽箱体对不同方向入射噪声的衰减效果 | 第39-42页 |
| 3.3.2 不同EUT模型对噪声衰减效果的影响 | 第42-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-45页 |
| 4 非完全屏蔽箱体现场测试 | 第45-61页 |
| 4.1 试验仪器与设备 | 第45-46页 |
| 4.2 验证驻波对测试结果的影响 | 第46-50页 |
| 4.3 验证非完全屏蔽箱体的噪声衰减效果 | 第50-60页 |
| 4.3.1 测量环境噪声 | 第50-52页 |
| 4.3.2 非完全屏蔽箱体对不同入射方向噪声的衰减效果验证 | 第52-58页 |
| 4.3.3 验证不同EUT模型对噪声衰减效果的影响 | 第58-59页 |
| 4.3.4 实测结果误差分析 | 第59-60页 |
| 4.4 本章小结 | 第60-61页 |
| 5 结论 | 第61-64页 |
| 5.1 工作总结 | 第61-62页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第67-69页 |
| 学位论文数据集 | 第69页 |
