| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 焊点的晶粒数目及晶体取向的变化 | 第10-11页 |
| 1.2.2 焊点的再结晶 | 第11-14页 |
| 1.2.3 焊点中组织结构的演变 | 第14页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第14-17页 |
| 第2章 实验材料、设备与方法 | 第17-21页 |
| 2.1 实验材料 | 第17页 |
| 2.2 实验设备 | 第17-18页 |
| 2.3 实验过程 | 第18-21页 |
| 2.3.1 试样的焊接工艺 | 第18页 |
| 2.3.2 试样的热处理 | 第18-19页 |
| 2.3.3 EBSD 试样的制备 | 第19-20页 |
| 2.3.4 实验的分析方法 | 第20-21页 |
| 第3章 焊点内部晶体取向演变 | 第21-41页 |
| 3.1 前言 | 第21-22页 |
| 3.2 自制焊点热循环条件下焊点的晶体取向变化 | 第22-29页 |
| 3.2.1 不同晶体取向的焊点表现出不同的演变规律 | 第22-29页 |
| 3.2.2 实验结论 | 第29页 |
| 3.3 等温老化对 BGA 焊点的晶体取向变化影响有限 | 第29-33页 |
| 3.3.1 85℃等温老化对自制 BGA 焊点的晶体取向变化基本无影响 | 第29-31页 |
| 3.3.2 150℃等温老化对实际 BGA 焊点的晶体取向改变影响有限 | 第31-33页 |
| 3.4 晶体取向演变机理探究 | 第33-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 晶体取向与焊点的可靠性 | 第41-51页 |
| 4.1 前言 | 第41-42页 |
| 4.2 焊点晶粒的数目对焊点可靠性的影响 | 第42-50页 |
| 4.2.1 多晶焊点对焊点可靠性的影响 | 第45-48页 |
| 4.2.2 单晶焊点的不同晶体取向对焊点可靠性的影响 | 第48-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 焊点内部组织结构演变 | 第51-64页 |
| 5.1 前言 | 第51-52页 |
| 5.2 不同钎料内部的微观组织结构 | 第52-54页 |
| 5.3 老化条件下微观组织结构的演变过程 | 第54-59页 |
| 5.4 焊点微观组织结构与晶体结构的联系 | 第59-63页 |
| 5.4.1 不同晶体结构中的微观组织 | 第59-61页 |
| 5.4.2 焊点晶体结构与微观组织对焊点性能的影响 | 第61-63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
