首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--场效应器件论文

单相功率MOS模块热可靠性设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-17页
    1.1 单相功率MOS模块应用背景及热可靠性问题第9-12页
    1.2 单相功率MOS模块热可靠性研究现状及评估方法第12-15页
    1.3 本文的主要工作及设计指标第15-16页
    1.4 本文的组织结构第16-17页
第二章 单相功率MOS模块工作原理及热分析方法第17-31页
    2.1 单相功率MOS模块封装结构及散热机制第17-22页
    2.2 单相功率MOS模块工作原理及功耗计算第22-27页
    2.3 单相功率MOS模块有限元热分析流程第27-29页
    2.4 本章小结第29-31页
第三章 单相功率MOS模块热可靠性影响因素研究及优化设计第31-57页
    3.1 单相功率MOS模块的热可靠性影响因素第31-36页
    3.2 单相功率MOS模块热通路组件优化第36-48页
    3.3 单相功率MOS模块热源组件优化第48-55页
    3.4 本章小结第55-57页
第四章 单相功率MOS模块热可靠性测试第57-65页
    4.1 优化前后单相功率MOS模块组件结构参数对比第57-59页
    4.2 优化前后单相功率MOS模块热阻及结温对比测试第59-62页
    4.3 优化的单相功率MOS模块温度循环可靠性测试第62-63页
    4.4 本章小结第63-65页
第五章 总结与展望第65-67页
    5.1 总结第65-66页
    5.2 展望第66-67页
致谢第67-69页
参考文献第69-73页
攻读硕士学位期间发表的论文第73页
    发表论文第73页
    发明专利第73页

论文共73页,点击 下载论文
上一篇:冷阴极电子枪的设计及应用研究
下一篇:基于低复杂度外插法EIR快速滤波器组设计的实现与应用