摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 引言 | 第11-21页 |
1.1 概述 | 第11-13页 |
1.2 国内外研究现状和进展 | 第13-16页 |
1.3 本文的研究背景和意义 | 第16-19页 |
1.4 主要工作和论文组织结构 | 第19-21页 |
第二章 模数转换器概述 | 第21-31页 |
2.1 模数转换器的简介 | 第21-23页 |
2.2 ADC 的主要技术和性能指标. | 第23-27页 |
2.2.1 静态参数 | 第23-25页 |
2.2.2 动态参数 | 第25-27页 |
2.3 模数转换器常见结构的介绍与比较 | 第27-31页 |
2.3.1 闪速型模数转换器 | 第28页 |
2.3.2 流水线型模数转换器 | 第28-29页 |
2.3.3 逐次逼近型模数转换器 | 第29-30页 |
2.3.4 Delta- Sigma 型模数转换器 | 第30-31页 |
第三章 流水线模数转换器的基础理论和误差分析 | 第31-50页 |
3.1 典型流水线模数转换器系统结构 | 第31-32页 |
3.2 关键单元分析 | 第32-36页 |
3.2.1 采样保持电路 | 第33-34页 |
3.2.2 子ADC 电路 | 第34-36页 |
3.2.3 MDAC 单元 | 第36页 |
3.3 流水线模数转换器系统误差源分析 | 第36-45页 |
3.3.1 子ADC 误差 | 第37页 |
3.3.2 运算放大器的误差 | 第37-39页 |
3.3.3 电容匹配误差 | 第39-40页 |
3.3.4 MOS 开关误差 | 第40-43页 |
3.3.5 采样时间的不确定性 | 第43-44页 |
3.3.6 系统噪声源分析 | 第44-45页 |
3.4 误差源校正技术 | 第45-50页 |
3.4.1 电容失配的模拟校准技术 | 第46-47页 |
3.4.2 数字校准技术 | 第47-50页 |
第四章 电路的实现 | 第50-85页 |
4.1 采样保持电路的设计 | 第50-77页 |
4.1.1 采样保持电路结构的选择 | 第50-52页 |
4.1.2 运算跨导放大器(OTA)的结构 | 第52-57页 |
4.1.3 开关的选择 | 第57-60页 |
4.1.4 电路参数的确定 | 第60-70页 |
4.1.5 仿真结果 | 第70-77页 |
4.2 比较器的设计 | 第77-81页 |
4.2.1 比较器结构的选择: | 第77-81页 |
4.3 MDAC 的设计 | 第81-84页 |
4.4 子数模转换电路 | 第84-85页 |
第五章 并行流水线模数转换器 | 第85-97页 |
5.1 并行ADC 结构概述 | 第85-87页 |
5.2 与并行结构相关的误差 | 第87-92页 |
5.2.1 通道间失调 | 第87-89页 |
5.2.2 通道间增益失配 | 第89-91页 |
5.2.3 时序失配(Timing mismatch) | 第91-92页 |
5.3 双采样 | 第92-94页 |
5.4 并行结构ADC 的优化设计 | 第94-96页 |
5.4.1 通道数目 | 第94-95页 |
5.4.2 级分辨率 | 第95-96页 |
5.5 并行结构的数字校准技术 | 第96-97页 |
第六章 工作总结与展望 | 第97-99页 |
参考文献 | 第99-105页 |
致谢 | 第105-106页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第106页 |