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基于Tcl的智能卡自动化测试的研究与实现

摘要第1-7页
Abstract第7-11页
第1章 绪论第11-18页
   ·研究的背景及意义第11-12页
   ·研究现状及存在问题第12-15页
     ·智能卡软件测试概述第12-13页
     ·智能卡软件测试国外研究概况第13-14页
     ·智能卡软件测试国内研究概况第14-15页
   ·课题可行性分析第15-16页
   ·论文的主要研究内容第16页
   ·论文的结构组织第16-18页
第2章 智能卡应用软件自动化测试相关研究第18-31页
   ·软件测试的理论基础第18-24页
     ·软件自动化测试概念及意义第18-20页
     ·软件自动化测试的进展第20-21页
     ·软件自动化测试的选择第21-24页
   ·软件质量管理工具简介第24-27页
     ·软件版本控制工具第24-26页
     ·软件缺陷管理工具第26-27页
   ·智能卡软硬件体系结构第27-29页
     ·智能卡硬件体系结构第27-29页
     ·智能卡软件体系结构第29页
   ·智能卡软件测试内容及测试策略第29-30页
   ·本章小结第30-31页
第3章 基于Tcl 的自动化测试框架第31-43页
   ·Tcl 语言的简介及应用第31-35页
     ·Tcl 语言概述第31-33页
     ·Tcl 语言在自动化测试系统中的应用第33-35页
   ·Tcl 在C++/C 环境下的移植第35-40页
     ·应用程序的结构第35-36页
     ·Tcl 解释器的创建第36-38页
     ·基于Tcl 系统函数的自定义扩展命令第38-40页
   ·基于Tcl 的智能卡软件测试的物理模型第40页
   ·Tcl 自动化测试平台的搭建第40-42页
   ·本章小结第42-43页
第4章 Tcl 自动化测试方法的详细研究第43-52页
   ·智能卡DB 软件模块概述第43页
   ·测试用例的开发第43-46页
     ·测试用例的设计原则第44-45页
     ·测试用例的编写规范第45-46页
   ·测试脚本的设计第46-49页
     ·测试数据来源第46-47页
     ·测试函数库的开发第47-48页
     ·配置文件设计第48-49页
   ·测试日志文件第49-50页
   ·测试界面的开发第50-51页
   ·本章小结第51-52页
第5章 Tcl 对中文字符数据的支持第52-59页
   ·Tcl 系统的字符处理机制第52-54页
     ·字符编码概述第53-54页
   ·中文字符的生成和处理第54-58页
     ·中文字符的生成第54-55页
     ·空闲码的剔除第55-56页
     ·中文字符的存储和显示第56-58页
   ·本章小结第58-59页
第6章 试验及结果分析第59-64页
   ·在嵌入式大容量智能卡软件系统测试中的应用第59-64页
     ·测试运行环境和背景第59-60页
     ·测试实例及分析第60-64页
结论第64-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-69页
附录1 从配置文件中读取配置项第69-71页
作者简介第71页
攻读硕士期间发表的论文和科研成果第71-72页

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