基于Tcl的智能卡自动化测试的研究与实现
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-11页 |
第1章 绪论 | 第11-18页 |
·研究的背景及意义 | 第11-12页 |
·研究现状及存在问题 | 第12-15页 |
·智能卡软件测试概述 | 第12-13页 |
·智能卡软件测试国外研究概况 | 第13-14页 |
·智能卡软件测试国内研究概况 | 第14-15页 |
·课题可行性分析 | 第15-16页 |
·论文的主要研究内容 | 第16页 |
·论文的结构组织 | 第16-18页 |
第2章 智能卡应用软件自动化测试相关研究 | 第18-31页 |
·软件测试的理论基础 | 第18-24页 |
·软件自动化测试概念及意义 | 第18-20页 |
·软件自动化测试的进展 | 第20-21页 |
·软件自动化测试的选择 | 第21-24页 |
·软件质量管理工具简介 | 第24-27页 |
·软件版本控制工具 | 第24-26页 |
·软件缺陷管理工具 | 第26-27页 |
·智能卡软硬件体系结构 | 第27-29页 |
·智能卡硬件体系结构 | 第27-29页 |
·智能卡软件体系结构 | 第29页 |
·智能卡软件测试内容及测试策略 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第3章 基于Tcl 的自动化测试框架 | 第31-43页 |
·Tcl 语言的简介及应用 | 第31-35页 |
·Tcl 语言概述 | 第31-33页 |
·Tcl 语言在自动化测试系统中的应用 | 第33-35页 |
·Tcl 在C++/C 环境下的移植 | 第35-40页 |
·应用程序的结构 | 第35-36页 |
·Tcl 解释器的创建 | 第36-38页 |
·基于Tcl 系统函数的自定义扩展命令 | 第38-40页 |
·基于Tcl 的智能卡软件测试的物理模型 | 第40页 |
·Tcl 自动化测试平台的搭建 | 第40-42页 |
·本章小结 | 第42-43页 |
第4章 Tcl 自动化测试方法的详细研究 | 第43-52页 |
·智能卡DB 软件模块概述 | 第43页 |
·测试用例的开发 | 第43-46页 |
·测试用例的设计原则 | 第44-45页 |
·测试用例的编写规范 | 第45-46页 |
·测试脚本的设计 | 第46-49页 |
·测试数据来源 | 第46-47页 |
·测试函数库的开发 | 第47-48页 |
·配置文件设计 | 第48-49页 |
·测试日志文件 | 第49-50页 |
·测试界面的开发 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第5章 Tcl 对中文字符数据的支持 | 第52-59页 |
·Tcl 系统的字符处理机制 | 第52-54页 |
·字符编码概述 | 第53-54页 |
·中文字符的生成和处理 | 第54-58页 |
·中文字符的生成 | 第54-55页 |
·空闲码的剔除 | 第55-56页 |
·中文字符的存储和显示 | 第56-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第6章 试验及结果分析 | 第59-64页 |
·在嵌入式大容量智能卡软件系统测试中的应用 | 第59-64页 |
·测试运行环境和背景 | 第59-60页 |
·测试实例及分析 | 第60-64页 |
结论 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-69页 |
附录1 从配置文件中读取配置项 | 第69-71页 |
作者简介 | 第71页 |
攻读硕士期间发表的论文和科研成果 | 第71-72页 |