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高精度锥束X射线发光断层成像关键问题研究

缩略语表第4-6页
中文摘要第6-9页
Abstract第9-11页
前言第12-15页
文献回顾第15-23页
    1 XLCT成像原理第15-16页
    2 XLCT发展现状第16-21页
        2.1 XLCT系统发展现状第16-20页
        2.2 XLCT成像算法的研究进展第20-21页
        2.3 小结第21页
    3 目前XLCT研究存在的问题第21-22页
    4 论文的研究目标第22-23页
第一部分 锥束XLCT成像系统搭建第23-38页
    1.1 引言第23页
    1.2 XLCT系统几何校正第23-31页
    1.3 CT/光学双模系统配准第31-32页
    1.4 XLCT数据采集重建一体化软件平台开发第32-35页
    1.5 小结与讨论第35-38页
第二部分 锥束XLCT成像模型及求解第38-47页
    2.1 引言第38页
    2.2 锥束XLCT的正问题第38-42页
    2.3 锥束XLCT的逆问题第42-45页
    2.4 小结与讨论第45-47页
第三部分 锥束XLCT的散射校正第47-52页
    3.1 引言第47页
    3.2 匀质仿体中X射线强度分布仿真第47-49页
    3.3 锥束XLCT散射校正实验第49-51页
    3.4 小结与讨论第51-52页
第四部分 基于主成分分析的XLCT成像第52-59页
    4.1 引言第52-53页
    4.2 不同浓度的纳米荧光粉的XLCT成像实验第53-58页
    4.3 小结与讨论第58-59页
总结与讨论第59-61页
参考文献第61-68页
个人简历和研究成果第68-69页
致谢第69页

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