高精度锥束X射线发光断层成像关键问题研究
缩略语表 | 第4-6页 |
中文摘要 | 第6-9页 |
Abstract | 第9-11页 |
前言 | 第12-15页 |
文献回顾 | 第15-23页 |
1 XLCT成像原理 | 第15-16页 |
2 XLCT发展现状 | 第16-21页 |
2.1 XLCT系统发展现状 | 第16-20页 |
2.2 XLCT成像算法的研究进展 | 第20-21页 |
2.3 小结 | 第21页 |
3 目前XLCT研究存在的问题 | 第21-22页 |
4 论文的研究目标 | 第22-23页 |
第一部分 锥束XLCT成像系统搭建 | 第23-38页 |
1.1 引言 | 第23页 |
1.2 XLCT系统几何校正 | 第23-31页 |
1.3 CT/光学双模系统配准 | 第31-32页 |
1.4 XLCT数据采集重建一体化软件平台开发 | 第32-35页 |
1.5 小结与讨论 | 第35-38页 |
第二部分 锥束XLCT成像模型及求解 | 第38-47页 |
2.1 引言 | 第38页 |
2.2 锥束XLCT的正问题 | 第38-42页 |
2.3 锥束XLCT的逆问题 | 第42-45页 |
2.4 小结与讨论 | 第45-47页 |
第三部分 锥束XLCT的散射校正 | 第47-52页 |
3.1 引言 | 第47页 |
3.2 匀质仿体中X射线强度分布仿真 | 第47-49页 |
3.3 锥束XLCT散射校正实验 | 第49-51页 |
3.4 小结与讨论 | 第51-52页 |
第四部分 基于主成分分析的XLCT成像 | 第52-59页 |
4.1 引言 | 第52-53页 |
4.2 不同浓度的纳米荧光粉的XLCT成像实验 | 第53-58页 |
4.3 小结与讨论 | 第58-59页 |
总结与讨论 | 第59-61页 |
参考文献 | 第61-68页 |
个人简历和研究成果 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |