摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第9-13页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
1.3 论文主要工作及组织结构 | 第12-13页 |
第2章 辐照加固的基本理论 | 第13-25页 |
2.1 辐照效应 | 第13页 |
2.2 单粒子效应 | 第13-18页 |
2.2.1 单粒子效应的机理 | 第13-15页 |
2.2.2 单粒子效应的分类 | 第15-16页 |
2.2.3 单粒子效应的模拟方法 | 第16-17页 |
2.2.4 单粒子瞬变电流脉冲模型 | 第17-18页 |
2.3 单粒子效应对电路的影响 | 第18-21页 |
2.4 单粒子效应加固技术 | 第21-24页 |
2.4.1 工艺加固 | 第22页 |
2.4.2 设计加固 | 第22-24页 |
2.5 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 基本锁相环设计 | 第25-50页 |
3.1 锁相环的结构及基本原理 | 第25-33页 |
3.1.1 鉴频鉴相器 | 第26-27页 |
3.1.2 电荷泵 | 第27-28页 |
3.1.3 低通滤波器 | 第28-29页 |
3.1.4 压控振荡器 | 第29-30页 |
3.1.5 分频器 | 第30页 |
3.1.6 电荷泵锁相环的线性模型 | 第30-31页 |
3.1.7 环路稳定性分析 | 第31-33页 |
3.2 锁相环各子电路设计 | 第33-49页 |
3.2.1 鉴频鉴相器设计 | 第33-36页 |
3.2.2 电荷泵设计 | 第36-40页 |
3.2.3 压控振荡器设计 | 第40-45页 |
3.2.4 分频器设计 | 第45-46页 |
3.2.5 整体电路的设计与仿真 | 第46-49页 |
3.3 本章小结 | 第49-50页 |
第4章 锁相环中SET敏感性分析 | 第50-63页 |
4.1 锁相环中SET敏感性的评估参数与双指数电流模型 | 第50-52页 |
4.1.1 SET敏感性评估参数 | 第50-51页 |
4.1.2 双指数电流模型 | 第51-52页 |
4.2 电荷泵中SET敏感性分析 | 第52-57页 |
4.2.1 SET敏感性量化方法 | 第52-54页 |
4.2.2 CP中不同轰击节点的SET响应 | 第54-55页 |
4.2.3 CP中不同轰击能量的SET响应 | 第55-56页 |
4.2.4 CP中不同工作频率的SET响应 | 第56-57页 |
4.3 压控振荡器中SET敏感性分析 | 第57-62页 |
4.3.1 VCO中不同轰击节点的SET响应 | 第57-60页 |
4.3.2 VCO中不同轰击能量的SET响应 | 第60-61页 |
4.3.3 VCO中不同工作频率的SET响应 | 第61-62页 |
4.4 本章小结 | 第62-63页 |
第5章 辐照加固锁相环设计 | 第63-78页 |
5.1 电荷泵模块的加固设计 | 第63-67页 |
5.2 压控振荡器的加固设计 | 第67-70页 |
5.3 鉴频鉴相器和分频器加固设计 | 第70页 |
5.4 PLL的版图加固设计 | 第70-74页 |
5.4.1 版图加固技术 | 第70-72页 |
5.4.2 PLL子模块及整体电路的版图设计 | 第72-74页 |
5.5 整体电路的仿真结果 | 第74-77页 |
5.6 本章小结 | 第77-78页 |
第6章 总结与展望 | 第78-80页 |
6.1 全文工作总结 | 第78-79页 |
6.2 工作展望 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
致谢 | 第84-85页 |
攻读硕士学位期间从事的科研工作及取得的成果 | 第85页 |