基于光子混频的连续太赫兹波成像系统设计及应用
| 致谢 | 第6-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第15-25页 |
| 1.1 THz技术 | 第15-17页 |
| 1.1.1 THz简介 | 第15-16页 |
| 1.1.2 THz国内外发展状况 | 第16-17页 |
| 1.2 THz成像技术的发展状况 | 第17-22页 |
| 1.3 研究意义及目的 | 第22-23页 |
| 1.4 本论文的章节安排 | 第23-25页 |
| 2 THz成像技术 | 第25-36页 |
| 2.1 引言 | 第25页 |
| 2.2 THz的辐射和探测 | 第25-28页 |
| 2.2.1 THz的产生 | 第25-27页 |
| 2.2.2 THz的探测 | 第27-28页 |
| 2.3 脉冲THz成像 | 第28-30页 |
| 2.4 连续THz成像 | 第30-32页 |
| 2.5 连续THz成像和脉冲THz成像的比较 | 第32-33页 |
| 2.6 THz近场成像 | 第33-35页 |
| 2.7 小结 | 第35-36页 |
| 3 基于光子混频的连续THz成像系统 | 第36-54页 |
| 3.1 引言 | 第36页 |
| 3.2 光子混频 | 第36-38页 |
| 3.3 系统设计 | 第38-45页 |
| 3.3.1 系统硬件设计 | 第38-41页 |
| 3.3.2 系统软件设计 | 第41-45页 |
| 3.4 系统性能分析 | 第45-49页 |
| 3.4.1 系统信噪比 | 第45-46页 |
| 3.4.2 空间分辨率 | 第46-48页 |
| 3.4.3 成像速度 | 第48-49页 |
| 3.5 幅度成像的应用 | 第49-52页 |
| 3.6 小结 | 第52-54页 |
| 4 光子混频连续THz成像系统相位信息的应用 | 第54-66页 |
| 4.1 引言 | 第54-55页 |
| 4.2 相位成像 | 第55-58页 |
| 4.3 厚度测量 | 第58-60页 |
| 4.3.1 厚度检测原理 | 第58页 |
| 4.3.2 样品厚度检测 | 第58-59页 |
| 4.3.3 二维厚度测量 | 第59-60页 |
| 4.4 折射率测量 | 第60-62页 |
| 4.4.1 折射率检测原理 | 第60页 |
| 4.4.2 样品折射率测量 | 第60-62页 |
| 4.5 影响相位测量精度因素分析 | 第62-64页 |
| 4.5.1 平行平面样品干涉效应对相位测量的影响 | 第62-63页 |
| 4.5.2 样品透射强度对相位测量的影响 | 第63-64页 |
| 4.5.3 延时线平移台重复性 | 第64页 |
| 4.6 小结 | 第64-66页 |
| 5 总结与展望 | 第66-68页 |
| 5.1 总结 | 第66页 |
| 5.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-74页 |
| 作者简历 | 第74页 |
