基于扫描探针显微术的超滤膜表征方法研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| ·膜分离技术 | 第10-15页 |
| ·超滤膜表征技术 | 第15-22页 |
| ·表面形貌表征技术 | 第15-17页 |
| ·超滤膜抗污性能的表征技术 | 第17-22页 |
| ·课题研究的意义和主要工作 | 第22-24页 |
| 第二章 超滤膜表征理论与方法的研究 | 第24-40页 |
| ·超滤膜分离原理 | 第24-31页 |
| ·超滤膜分离过程的传质机理 | 第25-26页 |
| ·超滤膜的分离模型 | 第26-27页 |
| ·超滤膜的污染机理 | 第27-30页 |
| ·超滤膜污染的力学特性分析 | 第30-31页 |
| ·超滤膜的污染物 | 第31页 |
| ·超滤膜表征方法的研究 | 第31-38页 |
| ·超高真空环境在超滤膜表面形貌表征中的作用 | 第32页 |
| ·量子隧道效应 | 第32-34页 |
| ·AFM探针的力学模型 | 第34-36页 |
| ·外作用下的探针力学模型 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第三章 超高真空环境下表征技术的研究与系统设计 | 第40-74页 |
| ·UHV-STM系统设计 | 第40-41页 |
| ·STM的原理分析 | 第41-43页 |
| ·隧道电流前置放大电路设计 | 第43-52页 |
| ·反馈控制电路的设计 | 第52-55页 |
| ·粗进针机构设计 | 第55-57页 |
| ·隔振系统设计 | 第57-61页 |
| ·真空系统设计 | 第61-66页 |
| ·真空腔体的设计 | 第61-63页 |
| ·测头机械结构的设计 | 第63-64页 |
| ·样品夹持机构的设计 | 第64-65页 |
| ·超高真空的实现 | 第65-66页 |
| ·控制软件 | 第66-70页 |
| ·数据采集和压电陶瓷控制 | 第66-68页 |
| ·图像处理和显示 | 第68-70页 |
| ·探针的制备 | 第70-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第四章 大气环境下表征技术的研究与系统设计 | 第74-98页 |
| ·AFM的原理分析 | 第74-76页 |
| ·AFM力曲线测量 | 第76-83页 |
| ·AFM力曲线测量的原理 | 第77-80页 |
| ·利用蛋白修饰探针 | 第80-81页 |
| ·AFM探针弹性系数的标定 | 第81-83页 |
| ·超声原子力显微镜（UAFM） | 第83-90页 |
| ·UAFM的原理 | 第84-86页 |
| ·UAFM系统搭建 | 第86-90页 |
| ·静电力显微镜（EFM） | 第90-94页 |
| ·EFM的原理 | 第90-93页 |
| ·EFM系统 | 第93-94页 |
| ·AFM与STM相结合的表征方法 | 第94-96页 |
| ·本章小结 | 第96-98页 |
| 第五章 超滤膜表征实验及数据分析 | 第98-124页 |
| ·超高真空环境下的表征实验 | 第98-101页 |
| ·测量金膜 | 第98-100页 |
| ·超滤膜孔径表征 | 第100-101页 |
| ·大气环境下的实验 | 第101-120页 |
| ·样品制备 | 第101-102页 |
| ·探针的修饰 | 第102-103页 |
| ·AFM探针悬臂梁弹性系数的标定 | 第103页 |
| ·力曲线测量 | 第103-107页 |
| ·UAFM测量 | 第107-112页 |
| ·EFM测量 | 第112-117页 |
| ·超滤膜抗污性表征方法比对实验 | 第117-118页 |
| ·AFM与STM相结合测量 | 第118-120页 |
| ·结论与分析 | 第120-121页 |
| ·本章小结 | 第121-124页 |
| 第六章 总结与展望 | 第124-128页 |
| ·论文完成的主要工作 | 第124-125页 |
| ·论文创新点 | 第125-126页 |
| ·工作展望 | 第126-128页 |
| 参考文献 | 第128-136页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第136-138页 |
| 致谢 | 第138-139页 |
| 附录1 UHV-STM 系统主要性能参数 | 第139-140页 |
| 附录2 振动隔离理论 | 第140-143页 |
| 附录3 UHV-STM 软件流程图 | 第143-144页 |
