摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第1章 绪论 | 第10-22页 |
·选题背景和研究意义 | 第10-12页 |
·选题背景 | 第10-11页 |
·研究意义 | 第11-12页 |
·国内外研究现状 | 第12-20页 |
·相关文献分析 | 第12-13页 |
·学术趋势分析 | 第13-15页 |
·非正态控制图的研究综述 | 第15-17页 |
·非正态过程能力指数研究综述 | 第17-20页 |
·论文研究内容与方法 | 第20-22页 |
第2章 非正态能力分析与过程控制的理论介绍 | 第22-35页 |
·过程控制的基本理论 | 第22-26页 |
·控制图的基本概念 | 第22-23页 |
·控制图的绘制过程 | 第23-25页 |
·控制图的判断准则 | 第25页 |
·控制图对过程控制的意义 | 第25-26页 |
·过程能力的基本理论 | 第26-30页 |
·过程能力的基本概念 | 第26-27页 |
·过程能力指数计算 | 第27-29页 |
·过程能力指数评价 | 第29-30页 |
·电子制造业中存在的非正态工艺参数 | 第30-31页 |
·非正态控制图与非正态过程能力指数的相关综述 | 第31-33页 |
·非正态控制图介绍 | 第31-32页 |
·非正态过程能力指数介绍 | 第32-33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
第3章 非正态过程控制图理论 | 第35-48页 |
·基于偏度校正的非正态控制图 | 第35-41页 |
·偏度校正控制图的原理 | 第35-37页 |
·基于偏度校正的均值-极差控制图 | 第37-40页 |
·Minitab模拟数据研究 | 第40-41页 |
·基于比例加权方差的非正态控制图 | 第41-45页 |
·比例加权控制图的原理 | 第41-43页 |
·基于比例加权方差法的均值控制图 | 第43-45页 |
·均值-极差控制图比较 | 第45-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第4章 非正态过程能力评价模型 | 第48-69页 |
·过程能力指数与成品率之间的关系 | 第48-52页 |
·过程能力指数C_(pk)与成品率关系概述 | 第48-50页 |
·非正态过程下等效过程能力指数评价 | 第50-52页 |
·非正态过程能力分析模型介绍 | 第52-59页 |
·基于Box-Cox转换模型的过程能力分析 | 第52-56页 |
·基于Johnson转换模型的过程能力分析 | 第56-59页 |
·基于Cs转换模型的过程能力分析 | 第59页 |
·基于蒙特卡洛模拟下的过程能力分析比较 | 第59-64页 |
·蒙特卡洛模拟介绍 | 第59-60页 |
·确定模拟的分布 | 第60-62页 |
·蒙特卡洛模拟运行 | 第62-64页 |
·基于箱线图过程能力结果分析 | 第64-68页 |
·箱线图基本理论 | 第64-65页 |
·箱线图结果分析比较 | 第65-68页 |
·本章小结 | 第68-69页 |
第5章 非正态过程能力分析与控制在电子制造业中的应用 | 第69-79页 |
·企业背景 | 第69-73页 |
·案例分析 | 第73-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
第6章 结论与展望 | 第79-81页 |
·结论 | 第79-80页 |
·展望 | 第80-81页 |
参考文献 | 第81-84页 |
在学期间研究成果 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-86页 |