| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·RFID技术在国内外的发展及趋势 | 第10-11页 |
| ·论文内容及结构安排 | 第11-13页 |
| 第二章 国标UHF RFID系统工作原理 | 第13-26页 |
| ·国标UHF RFID系统介绍 | 第13-14页 |
| ·国标UHF RFID系统的基本组成 | 第13-14页 |
| ·国标UHF RFID系统的工作流程 | 第14页 |
| ·国标UHF RFID空中接.协议介绍 | 第14-25页 |
| ·物理层和媒体访问控制层 | 第14-19页 |
| ·国标UHF RFID协议工作方式 | 第19-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 国标UHF RFID标签芯片数字电路后端设计 | 第26-49页 |
| ·数据准备 | 第27-28页 |
| ·设计库建立 | 第28-30页 |
| ·布图规划（Floorplan）和布局（Placement） | 第30-37页 |
| ·国标UHF RFID芯片布图规划方案选择和实施 | 第30-32页 |
| ·国标UHF RFID芯片电源和地线规划 | 第32-33页 |
| ·国标UHF RFID芯片的时序约束文件 | 第33-34页 |
| ·国标UHF RFID芯片标准单元布局 | 第34-37页 |
| ·国标UHF RFID芯片的时钟树综合 | 第37-41页 |
| ·时钟树简介 | 第38-40页 |
| ·基于ICC工具的时钟树综合 | 第40-41页 |
| ·国标UHF RFID芯片的布线 | 第41-44页 |
| ·全局布线 | 第42页 |
| ·布线轨道分配 | 第42页 |
| ·详细布线 | 第42-43页 |
| ·查找修复 | 第43-44页 |
| ·国标UHF RFID芯片可制造性设计 | 第44-48页 |
| ·天线效应修复 | 第45-46页 |
| ·减小随机微粒缺陷 | 第46-47页 |
| ·接触孔优化 | 第47页 |
| ·标准单元填充 | 第47-48页 |
| ·设计文件导出 | 第48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 静态时序分析、形式验证和后仿真 | 第49-58页 |
| ·静态时序分析 | 第49-55页 |
| ·静态时序分析的路径 | 第49-50页 |
| ·静态时序分析的主要内容 | 第50-53页 |
| ·国标UHF RFID芯片静态时序分析过程 | 第53-55页 |
| ·形式验证 | 第55-56页 |
| ·布局布线后仿真 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 国标UHF RFID全芯片版图的物理验证 | 第58-65页 |
| ·版图的拼接 | 第58-60页 |
| ·版图的物理验证 | 第60-64页 |
| ·DRC检查 | 第60-62页 |
| ·LVS检查 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 附录 | 第69页 |