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传感器芯片用紫外发光二极管特性研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-7页
第一章 绪论第7-17页
   ·引言第7-8页
   ·Ⅲ族氮化物材料概述第8-11页
   ·LED技术的发展历史第11-13页
   ·UV-LED研究的发展状况第13-16页
   ·本文的工作和安排第16-17页
第二章 实验设备及制作工艺流程第17-23页
   ·分子束外延设备第17-19页
   ·器件工艺设备第19-22页
   ·器件的制作流程第22-23页
第三章 紫外发光二极管外延材料设计及模拟第23-28页
   ·n-AlGaN层的设计第23-24页
   ·p-AlGaN层的设计第24-25页
   ·Crosslight APSYS模拟AlGaN外延结构设计第25-27页
   ·本章小结第27-28页
第四章 AlGaN材料中的能带结构势能扰动第28-34页
   ·势能扰动影响内量子效率第28-29页
   ·InGaN阵列组成不均匀引起势能扰动第29-30页
   ·在AlGaN阵列中激子的局域展示出势能扰动第30-32页
   ·在富Ga条件AlGaN材料生长的组成不均匀第32-33页
   ·本章小结第33-34页
第五章 器件材料生长及制作第34-41页
   ·典型的紫外LED器件结构及测试方法第34-36页
   ·样品的制备和实验方法第36-38页
   ·实验结果第38-41页
结论第41-42页
致谢第42-43页
参考文献第43页

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