基于ATLAS 2000的通用ATS的可视化开发软件的设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·通用测试系统发展概况 | 第7-9页 |
| ·本文的背景及研究意义 | 第9-12页 |
| ·国外研究现状 | 第9页 |
| ·国内研究现状 | 第9-11页 |
| ·研究意义 | 第11-12页 |
| ·ATE/ATS 技术发展趋势 | 第12-14页 |
| ·研究工作及章节安排 | 第14-17页 |
| 第二章 面向信号的测试语言的研究 | 第17-27页 |
| ·测试语言发展介绍 | 第17-19页 |
| ·发展历程 | 第17-18页 |
| ·ATLAS 2000 的提出 | 第18-19页 |
| ·ATLAS 2000 介绍 | 第19-22页 |
| ·内核 | 第20-21页 |
| ·原语 | 第21页 |
| ·测试应用框架 | 第21-22页 |
| ·ATLAS 2000 的结构特点 | 第22-24页 |
| ·ATLAS 2000 的复用方式 | 第24-25页 |
| ·框架复用 | 第24-25页 |
| ·组件复用 | 第25页 |
| ·ATLAS 2000 的工程应用 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 通用测试平台总架构的研究 | 第27-39页 |
| ·通用测试系统的硬件结构分析 | 第27-30页 |
| ·系统硬件平台的组成 | 第27-29页 |
| ·硬件平台的层状架构分析 | 第29-30页 |
| ·IVI-Singal Interface 技术 | 第30-33页 |
| ·技术概况 | 第30-31页 |
| ·结构及原理 | 第31-32页 |
| ·仪器可互换的实现 | 第32-33页 |
| ·IVI—SignaI Interface 标准 | 第33页 |
| ·常用总线技术的研究 | 第33-36页 |
| ·GPIB 总线 | 第33页 |
| ·VXI、PXI 总线 | 第33-34页 |
| ·其他外部总线 | 第34页 |
| ·LXI 总线 | 第34页 |
| ·几种总线的性能比较 | 第34-36页 |
| ·基于 LXI 混合总线层的设计 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 基于构件技术的 GATS 软件平台的设计 | 第39-49页 |
| ·软件组件化技术 | 第39-40页 |
| ·GATS 的软件层状结构设计 | 第40-43页 |
| ·层状框架的设计方法介绍 | 第40页 |
| ·层状结构设计 | 第40-43页 |
| ·基于构件的可视化 TPS 开发环境的设计 | 第43-48页 |
| ·开发环境主界面 | 第44-45页 |
| ·测试模块编辑子界面 | 第45-47页 |
| ·TP 仿真运行子界面 | 第47-48页 |
| ·测试结果查询子界面 | 第48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 开发环境基本控件的设计 | 第49-55页 |
| ·开发环境介绍 | 第50页 |
| ·C#控件技术简介 | 第50-51页 |
| ·仪器类控件开发 | 第51-52页 |
| ·外观设计 | 第51-52页 |
| ·属性及功能设计 | 第52页 |
| ·测试流程类控件的设计 | 第52-54页 |
| ·绘图类控件 | 第52-53页 |
| ·逻辑类控件 | 第53页 |
| ·计算求值类控件 | 第53页 |
| ·数据显示和处理类控件 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第六章 论文总结 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 作者在读期间的研究成果 | 第61-62页 |
