| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第8页 |
| ·红外探测器参数测试技术发展现状 | 第8-12页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 14—16.25μm红外探测器响应率测试系统工作原理及总体方案设计 | 第13-18页 |
| ·14-16.25μm红外探测器响应率测试系统工作原理 | 第13页 |
| ·响应率测试系统总体设计方案及组成 | 第13-18页 |
| ·测试系统的总体设计方案 | 第13-16页 |
| ·测试系统的组成 | 第16页 |
| ·测试系统的工作条件 | 第16-18页 |
| 第三章 14—16.25μm红外探测器响应率测试系统测量仪表的选取方法及辐射功率的计算 | 第18-39页 |
| ·响应率测试系统测量仪表的选取要求 | 第18-19页 |
| ·黑体光源的选择 | 第19-24页 |
| ·黑体辐射原理 | 第19-20页 |
| ·不同温度下黑体的光谱分布 | 第20-21页 |
| ·中温黑体光源 | 第21-22页 |
| ·黑体光源的选取 | 第22-23页 |
| ·黑体辐照度的计算 | 第23-24页 |
| ·入射到探测器上辐射功率的计算 | 第24-26页 |
| ·经调制盘后的辐射功率计算 | 第24-25页 |
| ·经滤光片后的辐射功率计算 | 第25-26页 |
| ·光学调制器的设计 | 第26-29页 |
| ·调制器的功能和特点 | 第26页 |
| ·调制盘与不同光阑孔配置时的均方根转换系数 | 第26-28页 |
| ·调制盘结构及电气箱内电路设计 | 第28-29页 |
| ·滤光片的设计方法 | 第29-32页 |
| ·滤光片的基本要求及主要性能指标 | 第30-31页 |
| ·红外滤光片膜系的设计 | 第31页 |
| ·高截止度宽带红外滤光片的镀制 | 第31-32页 |
| ·放大器的设计 | 第32-37页 |
| ·低噪声前置放大器 | 第32-36页 |
| ·后级放大器 | 第36-37页 |
| ·频潜分析仪的选择 | 第37-39页 |
| 第四章 噪声等效功率测试系统 | 第39-44页 |
| ·噪声等效功率测试的目的 | 第39页 |
| ·噪声测量系统的总体设计方案及测量方法 | 第39-40页 |
| ·噪声测量系统的总体设计方案 | 第39-40页 |
| ·噪声的测量方法 | 第40页 |
| ·红外探测器的噪声源和噪声频谱 | 第40-43页 |
| ·探测器噪声的计算公式 | 第43-44页 |
| 总结 | 第44-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-48页 |
