基于逻辑锥和SAT的带黑盒电路等价性验证方法
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-13页 |
| ·研究背景与意义 | 第11页 |
| ·本文主要工作 | 第11-12页 |
| ·本文章节安排 | 第12-13页 |
| 第二章 集成电路的形式化验证 | 第13-29页 |
| ·形式化验证设计 | 第13-19页 |
| ·形式化验证背景 | 第13-14页 |
| ·形式化验证技术开发的必然性 | 第14-16页 |
| ·形式化验证过程和方法 | 第16-19页 |
| ·集成电路等价性验证设计 | 第19-27页 |
| ·集成电路等价性验证介绍 | 第19页 |
| ·集成电路等价性验证方法 | 第19-22页 |
| ·集成电路等价性验证平台结构 | 第22-27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第三章 带黑盒电路等价性验证设计 | 第29-43页 |
| ·引入黑盒的背景 | 第29-30页 |
| ·带黑盒电路的等价性验证方法 | 第30-41页 |
| ·基于BDD的验证方法 | 第30-39页 |
| ·基于SAT的验证方法 | 第39-40页 |
| ·基于修改电路结构的验证方法 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第四章 带黑盒电路等价性验证算法 | 第43-53页 |
| ·预备知识 | 第43-45页 |
| ·逻辑锥 | 第43-44页 |
| ·MITER模型 | 第44页 |
| ·SAT | 第44-45页 |
| ·算法描述 | 第45-49页 |
| ·算法步骤 | 第45页 |
| ·算法的理论依据 | 第45-47页 |
| ·算法的实现 | 第47-49页 |
| ·实验结果及分析 | 第49-51页 |
| ·带一个黑盒的电路验证实验 | 第49-51页 |
| ·带多个黑盒的电路验证实验 | 第51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第五章 结论 | 第53-57页 |
| ·全文总结 | 第53-56页 |
| ·进一步工作 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-64页 |
| 发表文章目录 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
