| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-26页 |
| ·开关电源概述 | 第14-16页 |
| ·开关电源的基本概念 | 第14-15页 |
| ·开关电源的发展历史及其趋势 | 第15-16页 |
| ·开关电源中的磁性元件 | 第16-20页 |
| ·磁性元件在开关电源中的作用 | 第16-17页 |
| ·开关电源中的磁性材料 | 第17页 |
| ·低压大电流开关电源对磁性元件的要求 | 第17-19页 |
| ·平面磁性元件绕组设计 | 第19-20页 |
| ·国内外研究现状 | 第20-24页 |
| ·Dowell 一维模型 | 第20-21页 |
| ·集肤和邻近效应对绕组损耗的影响 | 第21页 |
| ·变压器绕组并联 | 第21-23页 |
| ·电感气隙设计 | 第23-24页 |
| ·研究意义和内容 | 第24-26页 |
| 第二章 多层导体并联的损耗分析 | 第26-50页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·导体中的集肤效应和邻近效应 | 第26-28页 |
| ·集肤效应 | 第27页 |
| ·邻近效应 | 第27-28页 |
| ·求解涡流场的Maxwell 方程 | 第28-30页 |
| ·一层铜箔的损耗分析 | 第30-34页 |
| ·损耗公式 | 第30-32页 |
| ·损耗与铜箔厚度的关系 | 第32-33页 |
| ·损耗与工作频率的关系 | 第33-34页 |
| ·一层厚导体分割为两层等厚薄导体并联对损耗影响的分析 | 第34-36页 |
| ·电磁场的有限元分析 | 第36-39页 |
| ·有限元简介 | 第37页 |
| ·Ansoft 公司Maxwell 2D 电磁场分析软件简介 | 第37-39页 |
| ·导体并联的有限元分析 | 第39-44页 |
| ·厚导体拆分为薄导体的并联对损耗的影响 | 第39-43页 |
| ·导体并联层数对损耗的影响 | 第43-44页 |
| ·实验验证 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第三章 平面变压器并联绕组的设计 | 第50-78页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·串联绕组的原副边交叉换位技术 | 第50-54页 |
| ·变压器并联绕组增加载流能力的方法 | 第54-56页 |
| ·单副边绕组变压器并联绕组的均流设计 | 第56-63页 |
| ·几何对称绕组结构布置方法 | 第56-58页 |
| ·并联绕组的灵活布置方法 | 第58-61页 |
| ·对偶数层绕组的并联均流方法的应用扩展 | 第61-63页 |
| ·中心抽头变压器并联绕组的均流设计 | 第63-73页 |
| ·中心抽头变压器两层并联绕组的布置 | 第63-68页 |
| ·中心抽头变压器并联绕组的布置方法 | 第68-73页 |
| ·实验验证 | 第73-76页 |
| ·本章小结 | 第76-78页 |
| 第四章 电感中的气隙设计 | 第78-97页 |
| ·引言 | 第78页 |
| ·气隙在磁芯柱上的位置对绕组损耗的影响 | 第78-92页 |
| ·旁路磁通对绕组损耗的影响 | 第79-83页 |
| ·旁路磁通对铜箔绕制电感损耗的影响 | 第83-87页 |
| ·气隙在磁芯柱上靠近上下端面对电感绕组的影响 | 第87-88页 |
| ·利用有限元对理论分析进行验证 | 第88-92页 |
| ·分布气隙参数对绕组损耗的影响 | 第92-95页 |
| ·气隙之间磁芯柱长度对绕组损耗的影响 | 第92-94页 |
| ·分布气隙个数对绕组损耗的影响 | 第94-95页 |
| ·本章小结 | 第95-97页 |
| 第五章 工作总结及展望 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-107页 |
| 致谢 | 第107-108页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第108页 |