| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-8页 |
| ·天线近场测量系统的发展概况及课题研究的意义 | 第6-7页 |
| ·本文的主要研究内容 | 第7-8页 |
| 第二章 平面近场测量的基本理论 | 第8-18页 |
| ·天线产生的电磁场的平面波展开 | 第8-10页 |
| ·天线远场方向图的表示式 | 第10-11页 |
| ·由近场测量数据确定天线的远场方向图 | 第11-15页 |
| ·平面近场扫描取样间隔的选取原则 | 第15-16页 |
| ·扫描面范围的选取原则 | 第16-17页 |
| ·待测天线口径面与扫描面之间距离的选取原则 | 第17-18页 |
| 第三章 网络分析仪及其精度分析 | 第18-42页 |
| ·网络分析仪概述 | 第18-19页 |
| ·网络分析仪的基本原理 | 第19-21页 |
| ·Agilent PNA系列矢量网络分析仪的精度分析 | 第21-30页 |
| ·提高网络分析仪的测量精度 | 第30-36页 |
| ·网络分析仪的校准 | 第36-42页 |
| 第四章 网络分析仪的自动测量 | 第42-51页 |
| ·COM简介 | 第42-44页 |
| ·GPIB系统与 SCPI命令 | 第44-49页 |
| ·通过 GPIB接口控制网络分析仪 | 第49-51页 |
| 第五章 天线近场测量系统的组成及实测结果 | 第51-66页 |
| ·HP8530A近场测量系统 | 第51-52页 |
| ·PAN(以Agilent E8362B为例)近场测量系统 | 第52-54页 |
| ·实测结果 | 第54-60页 |
| ·平面近场天线测量系统的误差分析 | 第60-66页 |
| 结束语 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 作者在读期间的研究成果 | 第71页 |