| 第一章 绪论 | 第1-13页 |
| 1．1 光线跟踪技术的历史和发展 | 第9页 |
| 1．2 研究光线跟踪的意义 | 第9-10页 |
| 1．3 本文的工作安排 | 第10-13页 |
| 第二章 光照明模型 | 第13-23页 |
| 2．1 颜色的表示 | 第13-14页 |
| 2．2 简单光照明模型 | 第14-20页 |
| 2．2．1 漫反射(diffuse reflection) | 第15-16页 |
| 2．2．2 环境反射(ambient reflection) | 第16页 |
| 2．2．3 镜面反射与Phong模型 | 第16-18页 |
| 2．2．4 表面法向量的计算 | 第18页 |
| 2．2．5 强度衰减 | 第18-19页 |
| 2．2．6 透明效果 | 第19-20页 |
| 2．3 整体光照模型 | 第20-23页 |
| 2．3．1 Whitted整体光照明模型 | 第21页 |
| 2．3．2 反射光线和折射光线的确定 | 第21-23页 |
| 第三章 光线跟踪 | 第23-45页 |
| 3．1 光线跟踪的基本原理 | 第23-27页 |
| 3．2 光线与物体的求交 | 第27-36页 |
| 3．2．1 光线与面片的求交 | 第28-30页 |
| 3．2．2 光线与球面求交 | 第30-32页 |
| 3．2．3 光线与长方体的求交 | 第32-35页 |
| 3．2．4 光线与二次曲面求交 | 第35-36页 |
| 3．3 光线跟踪中的阴影生成 | 第36-38页 |
| 3．4 光线跟踪算法的加速 | 第38-45页 |
| 3．4．1 自适应深度控制 | 第38-39页 |
| 3．4．2 包围盒及层次结构 | 第39-42页 |
| 3．4．3 三维 DDA算法 | 第42页 |
| 3．4．4 空间八叉树剖分技术 | 第42-45页 |
| 第四章 走样与反走样 | 第45-57页 |
| 4．1 采样方式 | 第46-48页 |
| 4．1．1 点采样 | 第46页 |
| 4．1．2 区域采样 | 第46-48页 |
| 4．2 采样理论 | 第48-49页 |
| 4．3 滤波 | 第49-51页 |
| 4．4 光线跟踪算法中的反走样技术 | 第51-57页 |
| 4．4．1 像素细分技术(超采样) | 第53-54页 |
| 4．4．2 非均匀超级采样技术 | 第54-55页 |
| 4．4．3 双线性插值反走样算法 | 第55-56页 |
| 4．4．4 随机采样 | 第56-57页 |
| 第五章 光线跟踪的实现 | 第57-61页 |
| 5．1 POV-RAY软件介绍 | 第57-59页 |
| 5．1．1 POV-RAY的功能 | 第57-58页 |
| 5．1．2 POV-RAY的特点 | 第58-59页 |
| 5．2 光线跟踪程序设计 | 第59-61页 |
| 第六章 结束语 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 本人的研究成果 | 第65-67页 |
| 附录 | 第67-68页 |