8051 IP软核容错技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-12页 |
| ·课题的背景和意义 | 第7-8页 |
| ·空间环境概述 | 第8-10页 |
| ·IP技术介绍 | 第10-11页 |
| ·本论文主要的研究工作 | 第11-12页 |
| 第2章 IP软核容错技术介绍 | 第12-19页 |
| ·单粒子效应介绍 | 第12-14页 |
| ·单粒子效应介绍 | 第12-13页 |
| ·空间环境下工作的微处理器分析 | 第13-14页 |
| ·提高系统可靠性的途径 | 第14-16页 |
| ·系统容错技术 | 第15页 |
| ·系统避错技术 | 第15-16页 |
| ·容错技术实现 | 第16-19页 |
| ·三模冗余技术 | 第16-17页 |
| ·EDAC及扩展Hamming码纠错码 | 第17-18页 |
| ·容错技术小结 | 第18-19页 |
| 第3章 MC8051IP核研究 | 第19-31页 |
| ·MC8051IP核总体设计 | 第19-22页 |
| ·标准MCU8051分析 | 第19页 |
| ·MC8051IP核设计特点分析 | 第19-20页 |
| ·总体设计 | 第20-21页 |
| ·结构层次设计 | 第21-22页 |
| ·设计工具 | 第22页 |
| ·指令系统分析 | 第22-27页 |
| ·指令格式 | 第22-23页 |
| ·寻址方式 | 第23页 |
| ·指令操作码编码分析 | 第23-25页 |
| ·指令执行的基本流程 | 第25-27页 |
| ·模块划分及功能分析 | 第27-31页 |
| ·存储模块分析 | 第27-29页 |
| ·定时器/计数器模块分析 | 第29页 |
| ·串口通信模块分析 | 第29-31页 |
| 第4章 8051IP软核及容错系统实现 | 第31-55页 |
| ·算术逻辑单元实现 | 第31-35页 |
| ·定时器/计数器单元实现 | 第35-37页 |
| ·串行接口模块实现 | 第37-39页 |
| ·控制通路实现 | 第39-47页 |
| ·存储器控制模块实现 | 第39-44页 |
| ·系统工作状态机实现 | 第44-47页 |
| ·存储模块实现 | 第47-51页 |
| ·程序存储器ROM | 第47页 |
| ·内部存储器RAM | 第47-49页 |
| ·外部存储器RAMX | 第49-51页 |
| ·软件仿真测试 | 第51-55页 |
| ·系统实现 | 第51-54页 |
| ·功能仿真与静态时序分析 | 第54页 |
| ·仿真结果 | 第54-55页 |
| 第5章 硬件测试系统设计 | 第55-68页 |
| ·全指令测试软件设计 | 第55-60页 |
| ·定时器/计数器模块及串口模块功能测试序列 | 第55-57页 |
| ·算术以及逻辑指令测试序列 | 第57-58页 |
| ·外部中断测试指令序列 | 第58-59页 |
| ·数据采集及处理系统 | 第59-60页 |
| ·试验硬件电路设计 | 第60-63页 |
| ·硬件实验电路功能及设计要点 | 第60-61页 |
| ·硬件电路具体模块设计 | 第61-62页 |
| ·PCB板设计 | 第62-63页 |
| ·硬件试验及结果 | 第63-67页 |
| ·试验设计中的不足分析及解决方法 | 第67-68页 |
| 第6章 结论及展望 | 第68-70页 |
| ·试验结论 | 第68页 |
| ·研究展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 发表文章 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
