| 摘要 | 第1-10页 |
| Abstract | 第10-13页 |
| 第一章 钙钛矿锰氧化物的基本性质和研究进展 | 第13-64页 |
| ·引言 | 第13-14页 |
| ·钙钛矿锰氧化物的研究历史 | 第14-18页 |
| ·钙钛矿结构氧化物的基本物理性质 | 第18-41页 |
| ·钙钛矿结构锰氧化物的晶体结构 | 第18-23页 |
| ·Jahn-Teller畸变 | 第19-22页 |
| ·A、B位离子不匹配引起的晶格畸变 | 第22-23页 |
| ·锰氧化物的电子结构和双交换作用 | 第23-26页 |
| ·锰氧化物的磁结构和相图 | 第26-28页 |
| ·锰氧化物中的电荷有序态 | 第28-37页 |
| ·有序相 | 第28-33页 |
| ·电荷有序相变时物理性质的变化 | 第33-34页 |
| ·影响电荷有序态稳定性的因素 | 第34-37页 |
| ·相分离现象 | 第37-41页 |
| ·钙钛矿锰氧化物薄膜的研究 | 第41-55页 |
| ·应变对外延薄膜物理性能的影响 | 第41-50页 |
| ·晶格结构 | 第43-44页 |
| ·输运性能 | 第44-46页 |
| ·轨道有序态 | 第46-49页 |
| ·电荷有序态 | 第49-50页 |
| ·薄膜的厚度效应 | 第50-55页 |
| ·晶胞参数 | 第50-51页 |
| ·物理性能 | 第51-53页 |
| ·电荷有序态 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-64页 |
| 第二章 样品制备以及表征方法和原理 | 第64-75页 |
| ·多晶样品的制备 | 第64页 |
| ·激光脉冲沉积法(PLD)薄膜制备工艺 | 第64-67页 |
| ·X射线衍射(X-ray dimaction,XRD)物相分析 | 第67-72页 |
| ·XRD | 第67-69页 |
| ·X射线倒易空间图(Reciprocal space map) | 第69-72页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第72-73页 |
| ·电阻测量 | 第73页 |
| ·样品的磁性以及输运性能测量 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第三章 室温下La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_(3-δ)外延薄膜中存在的氧扩散现象 | 第75-91页 |
| ·引言 | 第75-77页 |
| ·样品的制备和表征 | 第77-78页 |
| ·靶材的制备 | 第77页 |
| ·薄膜的制备和测试方法 | 第77-78页 |
| ·结果与讨论 | 第78-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-91页 |
| 第四章 各向异性应力导致Pr_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3反铁磁有序外延薄膜的结构畸变和厚度效应 | 第91-112页 |
| ·引言 | 第91-93页 |
| ·样品的制备和表征 | 第93-94页 |
| ·靶材的制备 | 第93页 |
| ·薄膜的制备和测试方法 | 第93-94页 |
| ·结果与讨论 | 第94-107页 |
| ·本章小结 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-112页 |
| 第五章 Pr_(1-x)Sr_xMnO_3体系外延薄膜的反铁磁态稳定性的研究 | 第112-129页 |
| ·引言 | 第112-114页 |
| ·样品的制备和表征 | 第114-115页 |
| ·靶材的制备 | 第114页 |
| ·薄膜的制备和测试方法 | 第114-115页 |
| ·实验结果与讨论 | 第115-126页 |
| ·本章小结 | 第126-127页 |
| 参考文献 | 第127-129页 |
| 硕博连读期间发表的论文 | 第129-131页 |
| 致谢 | 第131页 |
