基于CCD扫描的聚合物薄膜缺陷检测关键技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-15页 |
| 第1章 绪 论 | 第15-27页 |
| ·课题研究的目的和意义 | 第15-16页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第16-25页 |
| ·基于CCD 成像的材料缺陷检测技术研究现状 | 第16-23页 |
| ·FPGA 在图像处理领域的应用现状 | 第23-25页 |
| ·本文研究内容 | 第25-27页 |
| 第2章 聚合物薄膜缺陷检测系统设计与分析 | 第27-44页 |
| ·聚合物薄膜缺陷检测系统设计 | 第27-35页 |
| ·系统结构 | 第27-28页 |
| ·图像传感器 | 第28-30页 |
| ·镜头参数分析与选择 | 第30-33页 |
| ·光源选择与实验 | 第33-34页 |
| ·聚合物薄膜缺陷检测系统 | 第34-35页 |
| ·摄像单元对系统分辨力的影响及分析 | 第35-41页 |
| ·镜头低通滤波效应分析 | 第36-37页 |
| ·CCD 器件平均值采样效应 | 第37-41页 |
| ·CCD 信号处理方案 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 可调参数图像采集系统设计 | 第44-69页 |
| ·图像采集系统硬件设计 | 第44-48页 |
| ·A/D 转换电路 | 第45-46页 |
| ·FPGA 模块设计 | 第46-47页 |
| ·USB2.0 接口模块 | 第47-48页 |
| ·图像采集系统软件结构设计 | 第48-49页 |
| ·TCD1209D 驱动单元 | 第49-54页 |
| ·TCD1209D 驱动特点 | 第49-50页 |
| ·CCD 驱动单元设计 | 第50-51页 |
| ·CCD 驱动单元实验 | 第51-54页 |
| ·可调参数FIR 数字滤波器的设计 | 第54-62页 |
| ·数字滤波器选择 | 第54-55页 |
| ·FIR 数字滤波器基本结构 | 第55-56页 |
| ·FIR 滤波器设计 | 第56-57页 |
| ·FIR 滤波器实验结果与分析 | 第57-62页 |
| ·系统参数配置方法设计 | 第62-64页 |
| ·FIR 滤波器有限状态机设计 | 第62-63页 |
| ·参数配置单元结构设计 | 第63-64页 |
| ·图像采集系统实验结果与分析 | 第64-67页 |
| ·CCD 信号频谱的实验分析 | 第64-65页 |
| ·滤波器截止频率对缺陷残留幅值的影响 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第4章 缺陷图像数据压缩方法设计 | 第69-87页 |
| ·缺陷数据压缩方案设计 | 第69-77页 |
| ·缺陷图像压缩方法 | 第69-72页 |
| ·CCD 扫描信号分析 | 第72-74页 |
| ·阈值计算方案设计 | 第74-76页 |
| ·数据封装格式设计 | 第76-77页 |
| ·基于FPGA 的数据处理结构 | 第77-80页 |
| ·阈值计算单元 | 第78-79页 |
| ·数据处理的状态机设计 | 第79-80页 |
| ·计算机软件设计 | 第80-81页 |
| ·缺陷图像重建结果与分析 | 第81-83页 |
| ·亚像素检测方法的验证与分析 | 第83-86页 |
| ·本章小结 | 第86-87页 |
| 第5章 缺陷图像边缘实时提取技术 | 第87-107页 |
| ·图像硬件处理方法 | 第87-88页 |
| ·图像矩阵预处理算法 | 第88-96页 |
| ·空域滤波矩阵算子 | 第89-92页 |
| ·边缘提取算法 | 第92-96页 |
| ·基于矩阵算子图像预处理单元的设计 | 第96-102页 |
| ·可配置矩阵算子方案设计 | 第96-97页 |
| ·矩阵算子预处理在FPGA 上的实现 | 第97-102页 |
| ·实验结果与分析 | 第102-105页 |
| ·本章小结 | 第105-107页 |
| 结论 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-118页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文及专利 | 第118-119页 |
| 致谢 | 第119页 |
