| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·研究背景及意义 | 第12-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·退化失效轨道建模研究现状 | 第13-14页 |
| ·含缺失数据的参数估计方法研究现状 | 第14-15页 |
| ·论文的主要内容及结构安排 | 第15-18页 |
| ·研究内容 | 第15-16页 |
| ·论文结构 | 第16-18页 |
| 第二章 带随机拐点的退化失效建模与分析 | 第18-30页 |
| ·带随机拐点的退化失效物理分析 | 第18-20页 |
| ·半导体激光二极管 | 第18-19页 |
| ·PDP和VFD | 第19页 |
| ·金属化膜脉冲电容器 | 第19-20页 |
| ·形式化模型建立 | 第20-22页 |
| ·形式化模型参数分析方法 | 第22-28页 |
| ·EM算法原理 | 第22-24页 |
| ·带随机拐点的退化轨道模型参数分析 | 第24-28页 |
| ·初值搜索算法 | 第28-29页 |
| ·算法思想 | 第28-29页 |
| ·算法描述 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 带随机拐点的维纳过程模型 | 第30-39页 |
| ·带随机拐点的维纳过程模型建立 | 第30-33页 |
| ·模型描述 | 第30-31页 |
| ·似然函数 | 第31-33页 |
| ·带随机拐点的维纳过程模型参数分析 | 第33-36页 |
| ·条件期望 | 第33-34页 |
| ·参数估计 | 第34-36页 |
| ·仿真试验 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 实例分析 | 第39-56页 |
| ·金属化膜脉冲电容器常用退化建模方法 | 第40-44页 |
| ·直线型退化模型 | 第40-41页 |
| ·伪寿命数据模型 | 第41页 |
| ·B-S分布模型 | 第41-43页 |
| ·Gauss-Poisson分布模型 | 第43-44页 |
| ·金属化膜脉冲电容器失效物理分析 | 第44-47页 |
| ·金属化膜脉冲电容器失效原因 | 第44-46页 |
| ·金属化膜脉冲电容器性能退化试验 | 第46-47页 |
| ·带随机拐点的复合泊松过程模型 | 第47-55页 |
| ·模型建立 | 第47-50页 |
| ·参数分析 | 第50-53页 |
| ·金属化膜脉冲电容器的带随机拐点的复合泊松过程模型 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 结束语 | 第56-58页 |
| ·本文的主要贡献 | 第56-57页 |
| ·进一步研究的展望 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 附录 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第64页 |