| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究状况 | 第17-19页 |
| 1.3 研究内容与章节安排 | 第19-22页 |
| 第二章 数字芯片验证机制 | 第22-28页 |
| 2.1 数字芯片验证策略 | 第22-23页 |
| 2.2 验证环境的基本结构 | 第23-24页 |
| 2.3 基于UVM的验证环境 | 第24-26页 |
| 2.3.1 UVM验证环境基本结构 | 第24-25页 |
| 2.3.2 UVM验证环境运行机制 | 第25-26页 |
| 2.4 IC验证测试用例分析 | 第26-27页 |
| 2.4.1 测试激励的基本组成 | 第26页 |
| 2.4.2 测试用例标准化的意义 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 标准化测试用例与标准化验证环境设计 | 第28-60页 |
| 3.1 标准化测试用例设计 | 第28-32页 |
| 3.1.1 时钟与复位操作测试指令设计 | 第28-29页 |
| 3.1.2 寄存器操作测试指令设计 | 第29-30页 |
| 3.1.3 总线操作测试指令设计 | 第30页 |
| 3.1.4 IOC操作测试指令设计 | 第30-32页 |
| 3.2 标准化验证环境架构设计 | 第32-37页 |
| 3.2.1 标准化验证环境的底层组件 | 第32-33页 |
| 3.2.2 标准化测试指令集的传输系统设计 | 第33-36页 |
| 3.2.3 标准化验证环境总体结构设计 | 第36-37页 |
| 3.3 标准化验证环境顶层组件设计 | 第37-41页 |
| 3.3.1 utb_master的设计 | 第37-39页 |
| 3.3.2 寄存器模型设计 | 第39-40页 |
| 3.3.3 network的使用和连接 | 第40-41页 |
| 3.4 标准化验证环境底层设计 | 第41-53页 |
| 3.4.1 utb_common_slave设计 | 第42-44页 |
| 3.4.2 针对AMBA接口的utb_slave设计 | 第44-45页 |
| 3.4.3 utb_sram_slave设计 | 第45-46页 |
| 3.4.4 utb_cr_slave设计 | 第46-48页 |
| 3.4.5 utb_ioc_slave设计 | 第48-52页 |
| 3.4.6 utb_jtag_slave的设计 | 第52-53页 |
| 3.5 基于标准化测试指令的C-DPI测试用例设计 | 第53-56页 |
| 3.5.1 设计测试指令C-DPI方法的意义 | 第53-54页 |
| 3.5.2 标准化验证环境中的C-DPI方法设计 | 第54-56页 |
| 3.6 功能覆盖率收集系统设计 | 第56-57页 |
| 3.7 本章小结 | 第57-60页 |
| 第四章 代码生成系统设计 | 第60-70页 |
| 4.1 代码生成系统设计架构 | 第60-61页 |
| 4.2 数据输入与解析系统 | 第61-64页 |
| 4.3 标准化验证环境代码模板系统 | 第64-65页 |
| 4.4 中心化代码生成系统 | 第65-67页 |
| 4.5 生成代码分析 | 第67-68页 |
| 4.6 本章小结 | 第68-70页 |
| 第五章 系统的测试与应用效果分析 | 第70-84页 |
| 5.1 系统的回归自测试 | 第70-74页 |
| 5.1.1 验证环境的自测结构和测试用例 | 第70-72页 |
| 5.1.2 系统的回归自测结果 | 第72-74页 |
| 5.2 系统的应用 | 第74-79页 |
| 5.2.1 针对ModemCu的验证应用 | 第74-77页 |
| 5.2.2 针对IOSS的验证应用 | 第77-79页 |
| 5.3 自动化验证环境应用效率分析 | 第79-83页 |
| 5.3.1 降低IC验证背景知识要求 | 第79页 |
| 5.3.2 提高验证环境搭建效率 | 第79-81页 |
| 5.3.3 提高测试用例开发效率 | 第81-82页 |
| 5.3.4 提高复用性 | 第82-83页 |
| 5.4 本章小结 | 第83-84页 |
| 第六章 结束语 | 第84-86页 |
| 6.1 论文工作总结 | 第84页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-91页 |
| 致谢 | 第91-93页 |
| 作者简介 | 第93-94页 |