交联型聚苯乙烯的辐射制备及其真空沿面闪络特性研究
中文摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第12-26页 |
1.1 引言 | 第12页 |
1.2 脉冲功率技术及沿面闪络现象 | 第12-17页 |
1.2.1 脉冲设备与绝缘系统 | 第12-13页 |
1.2.2 真空沿面闪络现象 | 第13-16页 |
1.2.3 脉冲设备中的辐射环境 | 第16-17页 |
1.3 耐闪络真空绝缘材料 | 第17-22页 |
1.3.1 脉冲设备中的常用绝缘材料 | 第18-19页 |
1.3.2 交联型聚苯乙烯的结构特征 | 第19-20页 |
1.3.3 交联型聚苯乙烯的闪络研究现状 | 第20-22页 |
1.4 交联型聚苯乙烯的制备 | 第22-23页 |
1.4.1 合成方法 | 第22页 |
1.4.2 γ射线辐射工艺 | 第22-23页 |
1.5 本文研究的目的、意义和主要内容 | 第23-26页 |
1.5.1 研究的目的及意义 | 第23-24页 |
1.5.2 研究内容 | 第24-26页 |
第2章 实验部分 | 第26-36页 |
2.1 原料与仪器 | 第26-27页 |
2.2 材料合成 | 第27-28页 |
2.3 过量辐射老化实验 | 第28-29页 |
2.4 PTS装置长期软X射线辐射探索实验 | 第29-30页 |
2.5 材料表征与测试方法 | 第30-36页 |
2.5.1 结构表征 | 第30-31页 |
2.5.2 物性测量 | 第31-36页 |
第3章 交联结构与闪络特性关系研究 | 第36-50页 |
3.1 交联结构分析 | 第36-41页 |
3.1.1 红外吸收光谱 | 第36-37页 |
3.1.2 固体核磁共振 | 第37-38页 |
3.1.3 动态力学性能 | 第38-40页 |
3.1.4 交联度的推导估算 | 第40-41页 |
3.2 介电性能 | 第41-43页 |
3.2.1 介电常数 | 第41-42页 |
3.2.2 介电损耗 | 第42-43页 |
3.3 表面电学特性 | 第43-46页 |
3.3.1 表面电荷衰减曲线 | 第43-45页 |
3.3.2 表面陷阱分布 | 第45-46页 |
3.4 真空沿面闪络特性及分析 | 第46-50页 |
3.4.1 真空沿面闪络电压 | 第47-48页 |
3.4.2 交联结构与闪络特性关系分析 | 第48-50页 |
第4章 γ射线辐射老化与闪络特性关系研究 | 第50-58页 |
4.1 老化特征 | 第50-53页 |
4.1.1 红外吸收光谱 | 第50-51页 |
4.1.2 X射线光电子能谱 | 第51-53页 |
4.2 介电性能 | 第53-55页 |
4.2.1 介电常数 | 第53-54页 |
4.2.2 介电损耗 | 第54-55页 |
4.3 老化样品的表面电位衰减特性 | 第55页 |
4.4 老化样品的闪络特性及分析 | 第55-58页 |
4.4.1 真空沿面闪络电压 | 第56页 |
4.4.2 老化特征与闪络电压关系分析 | 第56-58页 |
第5章 PTS装置长期软X射线辐射探索实验 | 第58-63页 |
5.1 软X射线辐射样品的XPS表征 | 第58-60页 |
5.2 软X射线辐射样品的闪络特性 | 第60-61页 |
5.3 软X射线辐射对闪络特性影响分析 | 第61-63页 |
第6章 结论与展望 | 第63-65页 |
6.1 结论 | 第63页 |
6.2 展望 | 第63-65页 |
致谢 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-71页 |
硕士期间申请专利及发表论文情况 | 第71页 |