| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-11页 |
| 缩略语对照表 | 第11-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 基于signature的可靠性研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 signature的研究现状 | 第15-20页 |
| 1.3 本文工作 | 第20-22页 |
| 第二章 预备知识 | 第22-30页 |
| 2.1 关联系统及相关概念 | 第22-24页 |
| 2.1.1 结构函数 | 第22-23页 |
| 2.1.2 最小路集与最小割集 | 第23-24页 |
| 2.1.3 关联系统的可靠性 | 第24页 |
| 2.2 signature概念介绍 | 第24-26页 |
| 2.3 系统或元件可靠性指标 | 第26-28页 |
| 2.3.1 可靠性特征量 | 第26-27页 |
| 2.3.2 常见的寿命分布 | 第27-28页 |
| 2.4 常见寿命试验方案 | 第28-30页 |
| 第三章 基于signature和Ⅱ型双删失系统寿命数据的统计推断 | 第30-44页 |
| 3.1 基于signature的系统可靠性函数 | 第31-32页 |
| 3.2 基于signature的系统元件寿命参数的似然推断 | 第32-33页 |
| 3.3 元件寿命参数的渐近置信区间估计 | 第33-34页 |
| 3.4 参数估计的优化算法设计 | 第34-35页 |
| 3.5 仿真实验 | 第35-40页 |
| 3.5.1 仿真步骤 | 第36页 |
| 3.5.2 小样本仿真结果及分析 | 第36-39页 |
| 3.5.3 大样本仿真结构及分析 | 第39-40页 |
| 3.6 实例分析 | 第40-41页 |
| 3.7 本章小结 | 第41-44页 |
| 第四章 基于随机EM算法对Ⅱ型双删失寿命数据的参数推断 | 第44-54页 |
| 4.1 元件寿命数据的似然函数模型 | 第45页 |
| 4.2 基于元件寿命数据的随机EM算法 | 第45-48页 |
| 4.2.1 基于系统signature的随机EM算法 | 第46-47页 |
| 4.2.2 基于次序系统signature的随机EM算法 | 第47-48页 |
| 4.3 仿真实验 | 第48-52页 |
| 4.3.1 仿真步骤 | 第49-50页 |
| 4.3.2 仿真结果与分析 | 第50-52页 |
| 4.4 实例分析 | 第52-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 5.1 工作总结 | 第54页 |
| 5.2 研究展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 作者简介 | 第62-63页 |
