| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 研究意义和前景 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第15-16页 |
| 第2章 CMOS功率放大器研究 | 第16-38页 |
| 2.1 引言 | 第16-17页 |
| 2.2 CMOS功率放大器设计策略 | 第17-24页 |
| 2.2.1 提高耐压 | 第17-20页 |
| 2.2.2 降低AM-AM失真 | 第20-22页 |
| 2.2.3 降低AM-PM失真 | 第22-24页 |
| 2.3 基于SOI CMOS 0.18μm工艺的功率放大器设计 | 第24-37页 |
| 2.3.1 CMOS功率放大器性能指标 | 第25页 |
| 2.3.2 CMOS功率放大器接地 | 第25-29页 |
| 2.3.3 CMOS功率放大器总体设计 | 第29-31页 |
| 2.3.4 CMOS功率放大器仿真 | 第31-37页 |
| 2.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 包络跟踪电源调制器的研究 | 第38-54页 |
| 3.1 包络跟踪技术简介 | 第38-41页 |
| 3.2 包络跟踪电源调制器简介 | 第41-43页 |
| 3.3 包络跟踪电源调制器的设计原理 | 第43-47页 |
| 3.3.1 包络跟踪电源调制器工作模式 | 第44-46页 |
| 3.3.2 线性级关键性能指标 | 第46-47页 |
| 3.3.3 开关级关键性能指标 | 第47页 |
| 3.4 包络跟踪电源调制器电路仿真 | 第47-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第4章 实验测试与分析 | 第54-62页 |
| 4.1 实验平台搭建与设计 | 第54-55页 |
| 4.1.1 实验平台开发的软硬件环境 | 第54-55页 |
| 4.1.2 实验平台设计 | 第55页 |
| 4.2 CMOS功率放大器测试 | 第55-57页 |
| 4.3 CMOS包络跟踪电源调制器测试 | 第57-59页 |
| 4.4 包络跟踪功率放大器整体测试 | 第59-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 结论与展望 | 第62-64页 |
| 5.1 全文总结 | 第62-63页 |
| 5.2 未来工作与展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 科研项目及论文专利发表情况 | 第70页 |