流水线与寄存器堆抗单粒子翻转加固研究与设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.2.1 基于软件的加固技术 | 第9-10页 |
| 1.2.2 基于硬件的加固技术 | 第10-12页 |
| 1.2.3 混合加固技术 | 第12-13页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 OR1200处理器软错误敏感性分析 | 第15-29页 |
| 2.1 软硬件平台搭建 | 第15-21页 |
| 2.1.1 OpenRISC架构概述 | 第15-16页 |
| 2.1.2 OR1200软核处理器介绍 | 第16-17页 |
| 2.1.3 OR1200硬件平台结构 | 第17-18页 |
| 2.1.4 OR1200软件平台结构 | 第18-21页 |
| 2.2 软错误敏感性分析 | 第21-26页 |
| 2.2.1 故障注入工具介绍 | 第21-24页 |
| 2.2.2 软错误敏感性分析结果 | 第24-26页 |
| 2.3 软硬件结合的加固方法 | 第26-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 流水线加固设计 | 第29-41页 |
| 3.1 流水线介绍 | 第29-30页 |
| 3.2 流水线加固设计 | 第30-36页 |
| 3.2.1 软硬件结合加固方法 | 第30-32页 |
| 3.2.2 OR1200流水线加固设计 | 第32-36页 |
| 3.3 流水线加固效果评估 | 第36-40页 |
| 3.3.1 流水线加固效果验证 | 第36-38页 |
| 3.3.2 流水线加固效果评价 | 第38-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 寄存器堆加固设计 | 第41-54页 |
| 4.1 寄存器堆介绍 | 第41-42页 |
| 4.2 常用加固方法介绍 | 第42-43页 |
| 4.3 寄存器堆加固设计 | 第43-49页 |
| 4.3.1 编码设计 | 第43-47页 |
| 4.3.2 编译码与检纠错过程设计 | 第47-49页 |
| 4.4 寄存器堆加固效果评估 | 第49-53页 |
| 4.4.1 寄存器堆加固效果验证 | 第49-51页 |
| 4.4.2 寄存器堆加固效果评价 | 第51-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 结论 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及其他成果 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61页 |
