车用电机控制器中MOSFET的应用研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 MOSFET的发展方向 | 第11-12页 |
| 1.3 电力电子开关的类型 | 第12-13页 |
| 1.4 课题研究的主要内容 | 第13-15页 |
| 第2章 MOSFET的应用分析 | 第15-33页 |
| 2.1 MOSFET的工作原理 | 第15-22页 |
| 2.1.1 功率MOSFET的结构 | 第15-17页 |
| 2.1.2 MOSFET的静态特性 | 第17-20页 |
| 2.1.3 MOSFET的开关特性 | 第20-22页 |
| 2.2 MOSFET主要参数介绍 | 第22-26页 |
| 2.2.1 极限值 | 第22-24页 |
| 2.2.2 额定值 | 第24-26页 |
| 2.3 MOSFET的选型分析 | 第26-27页 |
| 2.4 MOSFET的驱动分析 | 第27-33页 |
| 2.4.1 驱动功率及峰值电流 | 第27-28页 |
| 2.4.2 开关频率和栅极阻容 | 第28-29页 |
| 2.4.3 驱动方式 | 第29-30页 |
| 2.4.4 并联驱动 | 第30-33页 |
| 第3章 MOSFET的使用寿命分析 | 第33-45页 |
| 3.1 MOSFET失效分析 | 第33-37页 |
| 3.1.1 MOSFET失效分类 | 第33页 |
| 3.1.2 封装结构失效 | 第33-35页 |
| 3.1.3 参数漂移失效 | 第35-36页 |
| 3.1.4 MOSFET非正常使用失效 | 第36-37页 |
| 3.2 MOSFET主要失效机理分析 | 第37-40页 |
| 3.2.1 热载流子注入效应失效机理分析 | 第38-39页 |
| 3.2.2 超薄氧化层经时击穿失效机理分析 | 第39-40页 |
| 3.3 MOSFET使用寿命预测 | 第40-45页 |
| 3.3.1 MOSFET的经典应力模型 | 第40-41页 |
| 3.3.2 综合应力模型 | 第41-42页 |
| 3.3.3 使用寿命实验预测 | 第42-45页 |
| 第4章 3KW电机控制器硬件设计 | 第45-66页 |
| 4.1 电机控制器 | 第45-47页 |
| 4.2 控制器硬件设计 | 第47-55页 |
| 4.2.1 主控板电路设计 | 第47-52页 |
| 4.2.2 电容板电路设计 | 第52-53页 |
| 4.2.3 功率板电路设计 | 第53-55页 |
| 4.3 控制器硬件调试测评分析 | 第55-61页 |
| 4.4 电机控制器性能测试 | 第61-66页 |
| 4.4.3 模拟负载老化温升测试 | 第61-64页 |
| 4.4.4 外特性台架实验测试 | 第64-66页 |
| 第5章 总结与展望 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 作者简介 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
