摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-22页 |
1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
1.2 超声相控阵技术的发展 | 第9-21页 |
1.2.1 常规超声相控阵检测技术发展 | 第9-11页 |
1.2.2 超声相控阵全采样数据和全聚焦成像技术 | 第11-17页 |
1.2.3 基于超声检测的三维重构技术发展 | 第17-21页 |
1.3 本论文的主要研究内容 | 第21-22页 |
第2章 实验原理及实验方法 | 第22-36页 |
2.1 常规超声相控阵技术 | 第22-23页 |
2.1.1 平面B扫描 | 第22-23页 |
2.1.2 聚焦B扫描 | 第23页 |
2.1.3 扇形B扫描 | 第23页 |
2.2 全采样数据(FMC) | 第23-24页 |
2.3 基于全采样数据的后处理成像技术 | 第24-28页 |
2.3.1 后处理平面B扫描成像技术 | 第24页 |
2.3.2 后处理聚焦B扫描成像技术 | 第24-25页 |
2.3.3 后处理扇扫B扫描成像技术 | 第25页 |
2.3.4 全聚焦技术及其几何模型 | 第25-28页 |
2.4 基于相控阵面阵探头的缺陷三维重建原理 | 第28-33页 |
2.4.1 图像平滑处理 | 第28-29页 |
2.4.2 图像滤波法 | 第29-30页 |
2.4.3 希尔伯特变换 | 第30-31页 |
2.4.4 基于体素级表面重建算法的三维缺陷可视化 | 第31-33页 |
2.5 实验设备 | 第33-35页 |
2.6 本章小结 | 第35-36页 |
第3章 FMC系统编程及TFM算法的开发 | 第36-58页 |
3.1 FMC系统编程 | 第36-40页 |
3.1.1 FMC算法设计 | 第36-38页 |
3.1.2 数据采集实验步骤 | 第38-39页 |
3.1.3 面阵探头每行晶片的全采样数据 | 第39-40页 |
3.2 TFM聚焦算法开发 | 第40-56页 |
3.2.1 TFM聚焦算法 | 第40-44页 |
3.2.2 TFM算法对不同模拟缺陷成像性能分析 | 第44-47页 |
3.2.3 采用斜入射法对模拟试件的TFM成像 | 第47-55页 |
3.2.4 采用斜入射法对焊缝的TFM成像 | 第55-56页 |
3.4 本章小结 | 第56-58页 |
第4章 基于TFM图像的三维重构 | 第58-71页 |
4.1 基于TFM图像的三维可视化重构的算法实现 | 第58-62页 |
4.1.1 等值面提取算法基本原理 | 第58-60页 |
4.1.2 等值面与体素边界交点的确定 | 第60-61页 |
4.1.3 等值面的向量表示 | 第61-62页 |
4.2 直入射法三维重构 | 第62-69页 |
4.2.1 待重建图像预处理 | 第62-64页 |
4.2.2 直入射法图像的三维重构 | 第64-66页 |
4.2.3 斜入射法图像的三维重构 | 第66-69页 |
4.3 对焊缝缺陷的三维重构 | 第69-70页 |
4.4 本章小结 | 第70-71页 |
结论 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
攻读学位期间发表的论文及其它成果 | 第76-79页 |
致谢 | 第79页 |