| 摘要 | 第15-17页 |
| Abstract | 第17-19页 |
| 符号说明 | 第20-21页 |
| 前言 | 第21-23页 |
| 第1章 高能物理发展和LHC | 第23-31页 |
| 1.1 高能物理发展 | 第23-24页 |
| 1.2 标准模型 | 第24-29页 |
| 1.2.1 夸克理论 | 第24-25页 |
| 1.2.2 QCD和电弱统一理论 | 第25-27页 |
| 1.2.3 希格斯机制 | 第27-28页 |
| 1.2.4 标准模型面临的问题 | 第28-29页 |
| 1.3 大型强子对撞机-LHC | 第29-31页 |
| 第2章 ATLAS探测器 | 第31-45页 |
| 2.1 ATLAS的物理目标 | 第31-32页 |
| 2.2 内部径迹探测器 | 第32-34页 |
| 2.3 量能器系统 | 第34-37页 |
| 2.3.1 电磁量能器 | 第35-36页 |
| 2.3.2 强子量能器 | 第36-37页 |
| 2.4 Moun探测器系统 | 第37-42页 |
| 2.4.1 Muon谱仪超导磁铁 | 第38页 |
| 2.4.2 Muon谱仪子探测器 | 第38-42页 |
| 2.5 触发系统和数据获取系统 | 第42-45页 |
| 第3章 ATLAS探测器muon触发phase-1升级 | 第45-53页 |
| 3.1 muon触发系统升级 | 第45-48页 |
| 3.1.1 Muon Level-1误触发 | 第45-46页 |
| 3.1.2 高亮度下muon谱仪性能下降 | 第46-48页 |
| 3.2 muon触发系统升级方案 | 第48-53页 |
| 第4章 升级探测器R&D | 第53-69页 |
| 4.1 多丝正比室 | 第53-54页 |
| 4.2 pTGC和TGC探测器的简介 | 第54-55页 |
| 4.3 pTGC的结构 | 第55-57页 |
| 4.4 pTGC位置分辨率的测试 | 第57-69页 |
| 4.4.1 信号获取 | 第58-59页 |
| 4.4.2 Cluster的定义 | 第59-60页 |
| 4.4.3 信号测试 | 第60-64页 |
| 4.4.4 位置分辨率 | 第64-65页 |
| 4.4.5 入射角度和噪声对pTGC位置分辨率的影响 | 第65-69页 |
| 第5章 使用VMM1.0芯片的pTGC测试 | 第69-79页 |
| 5.1 基于VMM1的前端电子学板 | 第69-73页 |
| 5.1.1 VMM1逻辑简介 | 第70-71页 |
| 5.1.2 VMM1芯片测试 | 第71-73页 |
| 5.2 VMM1前端电子学测试pTGC探测器 | 第73-77页 |
| 5.3 本章小结 | 第77-79页 |
| 第6章 sTGC探测器 | 第79-87页 |
| 6.1 sTGC探测器的基本结构 | 第79-81页 |
| 6.2 sTGC探测器的老化 | 第81页 |
| 6.3 sTGC探测器的抗辐照性能 | 第81-82页 |
| 6.4 sTGC束流测试 | 第82-86页 |
| 6.5 本章小结 | 第86-87页 |
| 第7章 sTGC性能测试系统 | 第87-93页 |
| 7.1 CoRaRS宇宙线扫描系统结构 | 第87页 |
| 7.2 测试平台信号获取 | 第87-93页 |
| 7.2.1 测试系统的触发信号 | 第88-89页 |
| 7.2.2 测试系统对被测探测器的位置测量 | 第89-90页 |
| 7.2.3 CoRaRs测试平台的性能 | 第90-93页 |
| 第8章 VMM2.0前端电子学测试sTGC探测器 | 第93-115页 |
| 8.1 sTGC前端读出电子学VMM2芯片简介 | 第93-95页 |
| 8.2 sTGC前端电子学板 | 第95-96页 |
| 8.3 读出电子学系统 | 第96-97页 |
| 8.4 电子学配置以及数据获取软件使用 | 第97-100页 |
| 8.4.1 工程文件的加载及运行 | 第97页 |
| 8.4.2 配置界面的使用 | 第97-98页 |
| 8.4.3 主要参数的设置 | 第98-99页 |
| 8.4.4 数据获取 | 第99-100页 |
| 8.5 数据格式 | 第100-101页 |
| 8.6 sTGC测试 | 第101-113页 |
| 8.6.1 探测器直接信号输出测试 | 第102-103页 |
| 8.6.2 利用电子学的内部测试脉冲以及自触发功能对探测器测试 | 第103-107页 |
| 8.6.3 外部触发测试sTGC | 第107-113页 |
| 8.7 本章小结 | 第113-115页 |
| 第9章 VMM3.0前端电子学对sTGC测试结果 | 第115-125页 |
| 9.1 基值与噪音 | 第116-117页 |
| 9.2 Cluster信号幅度分布 | 第117-119页 |
| 9.3 ClusterNumber和ClusterSize分布 | 第119-120页 |
| 9.4 sTGC位置分辨率 | 第120页 |
| 9.5 sTGC的旋转角度 | 第120-122页 |
| 9.6 sTGC探测效率 | 第122-123页 |
| 9.7 本章小结 | 第123-125页 |
| 展望 | 第125-127页 |
| 参考文献 | 第127-131页 |
| 攻读博士学位期间发表论文 | 第131-133页 |
| 致谢 | 第133-135页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第135页 |
