基于反卷积的扫描电化学成像去拖尾算法
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 引言 | 第7-11页 |
1.1 研究背景 | 第7-8页 |
1.2 研究意义 | 第8页 |
1.3 国内外研究现状 | 第8-9页 |
1.4 论文结构 | 第9-11页 |
第二章 相关知识与技术介绍 | 第11-17页 |
2.1 扫描电化学显微镜 | 第11-13页 |
2.2 电化学方法 | 第13-14页 |
2.3 反卷积原理 | 第14-15页 |
2.4 插值原理 | 第15页 |
2.5 移位去拖尾方法 | 第15-17页 |
第三章 反卷积去拖尾算法 | 第17-25页 |
3.1 拖尾现象 | 第17-19页 |
3.2 拖尾成因分析 | 第19-23页 |
3.2.1 均值滤波与拖尾现象 | 第19-22页 |
3.2.2 采样棒扰动与拖尾现象 | 第22-23页 |
3.3 反卷积去拖尾算法 | 第23-25页 |
3.3.1 卷积核求取 | 第23-24页 |
3.3.2 反卷积数据求取与合并 | 第24-25页 |
第四章 实验结果与分析 | 第25-36页 |
4.1 实验方案 | 第25-26页 |
4.2 结果与分析 | 第26-36页 |
4.2.1 卷积核求取结果与分析 | 第26-27页 |
4.2.2 反卷积结果与分析 | 第27-33页 |
4.2.3 插值结果 | 第33-36页 |
第五章 总结与展望 | 第36-37页 |
5.1 总结 | 第36页 |
5.2 展望 | 第36-37页 |
参考文献 | 第37-39页 |
致谢 | 第39页 |