| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-26页 |
| ·稀磁半导体 | 第10-18页 |
| ·自旋电子学 | 第10-11页 |
| ·稀磁半导体的概述 | 第11-12页 |
| ·物质的磁性 | 第12-14页 |
| ·稀磁半导体的磁性模型 | 第14-18页 |
| ·纳米材料 | 第18-20页 |
| ·纳米材料的概念及性质 | 第18-19页 |
| ·SiC 结构、性质以及应用 | 第19-20页 |
| ·SiC 基稀磁半导体材料的研究进展 | 第20-21页 |
| ·本研究的目的和意义 | 第21-23页 |
| 参考文献 | 第23-26页 |
| 第二章 实验材料、设备及测试方法 | 第26-32页 |
| ·实验材料 | 第26页 |
| ·实验设备 | 第26-27页 |
| ·测试方法 | 第27-31页 |
| ·X 射线衍射仪(XRD) | 第27页 |
| ·拉曼光谱仪(Raman) | 第27-28页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM)和 X 射线能谱仪(EDS) | 第28页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第28-29页 |
| ·超导量子干涉仪(SQUID) | 第29-30页 |
| ·电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES) | 第30-31页 |
| 参考文献 | 第31-32页 |
| 第三章 Mn 掺杂 SiC 纳米颗粒的制备与磁性研究 | 第32-40页 |
| ·引言 | 第32-33页 |
| ·实验部分 | 第33页 |
| ·结果与讨论 | 第33-37页 |
| ·XRD 数据分析 | 第33-34页 |
| ·ICP-AES 测试分析 | 第34-35页 |
| ·SEM 图像分析 | 第35页 |
| ·磁性分析 | 第35-37页 |
| ·结论 | 第37-38页 |
| 参考文献 | 第38-40页 |
| 第四章 Mn 掺杂 3C-SiC 纳米线的微结构和磁性研究 | 第40-50页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·实验部分 | 第40-41页 |
| ·结果与讨论 | 第41-47页 |
| ·XRD 数据分析 | 第41-42页 |
| ·Raman 光谱分析 | 第42-43页 |
| ·SEM 和 EDS 分析 | 第43-44页 |
| ·TEM、HRTEM 像与 SAED 图谱分析 | 第44页 |
| ·SQUID 分析 | 第44-46页 |
| ·生长机理分析 | 第46-47页 |
| ·结论 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 第五章 Co 掺杂 3C-SiC 纳米线的微结构与磁性研究 | 第50-61页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·实验部分 | 第51页 |
| ·结果与讨论 | 第51-58页 |
| ·ICP-AES 测试 | 第51页 |
| ·XRD 测试分析 | 第51-52页 |
| ·Raman 光谱分析 | 第52-53页 |
| ·SEM 图像分析 | 第53页 |
| ·HRTEM 测试分析 | 第53-54页 |
| ·磁性分析 | 第54-58页 |
| ·结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 硕士期间发表的学术论文 | 第62-63页 |
