继电器接通可靠性评估及其预测研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 继电器检测技术概况 | 第9-11页 |
| 1.3 概率云的分析研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 主要研究内容 | 第13-16页 |
| 第二章 电磁继电器动态电接触性能测试系统 | 第16-32页 |
| 2.1 测试系统总体设计研究方案 | 第16-17页 |
| 2.2 测试系统硬件设计 | 第17-23页 |
| 2.2.1 线圈驱动电路设计 | 第17-18页 |
| 2.2.2 测试电路设计 | 第18-22页 |
| 2.2.3 检测系统整体硬件结构 | 第22-23页 |
| 2.3 测试系统软件设计 | 第23-27页 |
| 2.3.1 虚拟仪器软件结构 | 第23-24页 |
| 2.3.2 试验控制流程 | 第24-25页 |
| 2.3.3 数据采集程序设计 | 第25-27页 |
| 2.4 测试系统抗干扰设计 | 第27-28页 |
| 2.5 试验结果 | 第28-29页 |
| 2.6 小结 | 第29-32页 |
| 第三章 继电器接通可靠性云评估 | 第32-56页 |
| 3.1 云模型概念 | 第32-38页 |
| 3.1.1 云模型的基本定义 | 第32-35页 |
| 3.1.2 云模型的数字特征 | 第35-37页 |
| 3.1.3 云模型的 3En 规则 | 第37-38页 |
| 3.2 云模型发生器 | 第38-42页 |
| 3.2.1 正向云模型发生器 | 第38-40页 |
| 3.2.2 逆向云模型发生器 | 第40-41页 |
| 3.2.3 条件云模型发生器 | 第41-42页 |
| 3.3 可靠性评估云模型建立 | 第42-45页 |
| 3.3.1 评估模型的思想 | 第42-43页 |
| 3.3.2 评估模型的建立 | 第43-45页 |
| 3.4 继电器失效机理及模式 | 第45-47页 |
| 3.4.1 继电器失效机理分析 | 第45-47页 |
| 3.4.2 继电器失效模式 | 第47页 |
| 3.5 继电器可靠性云分析 | 第47-54页 |
| 3.5.1 特征参数云模型 | 第48-53页 |
| 3.5.2 不同环境温度特征参数云模型 | 第53-54页 |
| 3.6 小结 | 第54-56页 |
| 第四章 继电器接触失效灰预测 | 第56-62页 |
| 4.1 灰色理论 | 第56-58页 |
| 4.1.1 灰色系统简介 | 第56-57页 |
| 4.1.2 灰色预测模型 | 第57-58页 |
| 4.2 基于灰色的接触失效预测 | 第58-62页 |
| 4.2.1 灰色 GM(1,1)模型的建立 | 第59-60页 |
| 4.2.2 继电器特征参数预测 | 第60-62页 |
| 第五章 灰色云预测 | 第62-68页 |
| 5.1 子序列重构 | 第62-63页 |
| 5.2 灰色云预测方法 | 第63-68页 |
| 第六章 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
