| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第8-11页 |
| 1.1.1 工业 CT 技术 | 第8-10页 |
| 1.1.2 弱边缘概述 | 第10-11页 |
| 1.2 课题研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 课题研究意义 | 第13-14页 |
| 1.4 论文研究的内容与结构安排 | 第14-16页 |
| 2 数学形态学与活动轮廓模型法 | 第16-30页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 数学形态学滤波 | 第16-24页 |
| 2.2.1 灰度开运算与闭运算 | 第16-21页 |
| 2.2.2 形态学开-闭重建 | 第21-24页 |
| 2.3 活动轮廓模型 | 第24-28页 |
| 2.3.1 活动轮廓模型概述 | 第24-25页 |
| 2.3.2 C-V 方法的数学模型 | 第25-27页 |
| 2.3.3 C-V 方法的过分割问题及解决方法 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 3 标准工件弱边缘检测 | 第30-48页 |
| 3.1 常用边缘检测方法概述 | 第30-35页 |
| 3.1.1 边缘的分类 | 第30-31页 |
| 3.1.2 几种边缘检测方法简介 | 第31-35页 |
| 3.2 开-闭重建滤波与 C-V 相结合的弱边缘检测方法 | 第35-40页 |
| 3.2.1 数学形态学滤波 | 第36-37页 |
| 3.2.2 C-V 方法分割 | 第37-40页 |
| 3.3 实验结果及其分析 | 第40-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 4 不规则工件弱边缘检测 | 第48-62页 |
| 4.1 图像缺陷的常用检测方法 | 第48-50页 |
| 4.1.1 缺陷检测技术概述 | 第48-49页 |
| 4.1.2 直接缺陷检测技术 | 第49-50页 |
| 4.2 图像预处理 | 第50-52页 |
| 4.2.1 基于形态学的滤波 | 第50页 |
| 4.2.2 实验结果及其分析 | 第50-52页 |
| 4.3 工件缺陷分割 | 第52-58页 |
| 4.3.1 基于 C-V 的缺陷分割 | 第53页 |
| 4.3.2 区域填充及面积测量 | 第53-55页 |
| 4.3.3 对比实验及其分析 | 第55-58页 |
| 4.4 具有弱边缘工件的尺寸测量软件实现 | 第58-60页 |
| 4.4.1 工程应用软件 MATLAB 简介 | 第58-59页 |
| 4.4.2 系统测量流程及实现 | 第59-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-62页 |
| 5 总结与展望 | 第62-64页 |
| 5.1 论文总结 | 第62-63页 |
| 5.2 工作展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 附录 | 第70页 |
| A 作者在攻读硕士学位期间发表录用及投稿的论文目录 | 第70页 |
| B 作者在攻读硕士学位期间申请并受理的专利 | 第70页 |