| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 X射线成像检测技术的发展 | 第10-11页 |
| 1.2 数字化的X射线实时成像器件 | 第11-18页 |
| 1.2.1 平板DR | 第12-13页 |
| 1.2.2 X射线CCD及CMOS相机 | 第13-18页 |
| 1.3 X射线CCD相机的发展现状及本论文的研究意义 | 第18-20页 |
| 1.4 本文的主要研究工作 | 第20-21页 |
| 1.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 参考文献 | 第22-24页 |
| 第2章 X射线CCD相机的制备 | 第24-42页 |
| 2.1 X射线感光屏 | 第24-29页 |
| 2.1.1 X射线转换材料的选取 | 第25-27页 |
| 2.1.2 X射线感光屏的制备 | 第27-29页 |
| 2.2 像增强器的选取 | 第29-31页 |
| 2.3 中继耦合器件的选取 | 第31-32页 |
| 2.4 CCD相机的选取 | 第32-34页 |
| 2.5 器件之间的耦合 | 第34-39页 |
| 2.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |
| 第3章 X射线CCD相机的测试 | 第42-70页 |
| 3.1 可见光源下系统的分辨率测试 | 第42-44页 |
| 3.1.1 美国THORLABS 1951 USAF R1DS1N分辨率测试靶 | 第42-43页 |
| 3.1.2 视频采集卡 | 第43页 |
| 3.1.3 分辨率的成像测试 | 第43-44页 |
| 3.2 X射线光源下系统的分辨率测试 | 第44-48页 |
| 3.2.1 德国PTW FREIBURG L659041高分辨率测试卡 | 第44-45页 |
| 3.2.2 X光管 | 第45-46页 |
| 3.2.3 分辨率的成像测试 | 第46-48页 |
| 3.3 系统的灰度曲线与对比度分析 | 第48-51页 |
| 3.4 管电压及电流与图像对比度的关系 | 第51-58页 |
| 3.4.1 管电压与图像对比度的关系 | 第51-56页 |
| 3.4.2 管电流与图像对比度的关系 | 第56-58页 |
| 3.5 系统对实物成像的测试 | 第58-64页 |
| 3.6 深紫外光源下系统对指纹的成像测试 | 第64-66页 |
| 3.6.1 深紫外LED光源 | 第64-65页 |
| 3.6.2 指纹的成像测试 | 第65-66页 |
| 3.7 本章小结 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 第4章 结论与展望 | 第70-72页 |
| 4.1 结论 | 第70-71页 |
| 4.2 展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-75页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第75-76页 |
