防锈油防护性能技术标准及测试仪研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 插图索引 | 第10-11页 |
| 附表索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题的研究背景及现状 | 第12-13页 |
| 1.2 金属防锈涂膜防锈性能试验概况 | 第13-16页 |
| 1.3 课题来源及研究内容和意义 | 第16-17页 |
| 1.4 本文的组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 防锈液防锈性能评价标准的研究 | 第18-32页 |
| 2.1 金属的腐蚀机理及防腐蚀的措施 | 第18-20页 |
| 2.2 耐蚀性能评价的研究 | 第20-24页 |
| 2.2.1 电化学评价方法 | 第20页 |
| 2.2.2 束电极体系 | 第20-21页 |
| 2.2.3 防锈性能的五参数评价体系 | 第21-24页 |
| 2.3 多电极电化学法测试试验 | 第24-29页 |
| 2.4 防锈性能测试试验---国家标准解读 | 第29-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 防锈性能测试仪设计 | 第32-48页 |
| 3.1 防锈性能测试系统 | 第32-34页 |
| 3.1.1 测试仪系统结构 | 第32-34页 |
| 3.1.2 仪器结构中的关键模块 | 第34页 |
| 3.2 电源以及基准源电路 | 第34-37页 |
| 3.2.1 静态工作点偏移的影响 | 第34-35页 |
| 3.2.2 电源干扰 | 第35页 |
| 3.2.3 电源以及基准源的电路 | 第35-37页 |
| 3.3 阵列电极选择单元 | 第37-39页 |
| 3.4 采样放大及自动量程转换单元 | 第39-42页 |
| 3.4.1 量程转换的目的以及设计思想 | 第39-40页 |
| 3.4.2 量程转换的实现 | 第40页 |
| 3.4.3 采样电路 | 第40-42页 |
| 3.5 主控制器 | 第42-46页 |
| 3.5.1 MCU外围电路 | 第42-43页 |
| 3.5.2 MCU的I/O资源分配 | 第43页 |
| 3.5.3 测试流程 | 第43-45页 |
| 3.5.4 通信协议 | 第45-46页 |
| 3.6 上位机软件 | 第46-47页 |
| 3.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 测试仪样机以及性能验证 | 第48-55页 |
| 4.1 样机结构的模块划分 | 第48-49页 |
| 4.2 PCB设计 | 第49-52页 |
| 4.2.1 取样模块PCB设计 | 第49-51页 |
| 4.2.2 主板PCB设计 | 第51-52页 |
| 4.3 样机运行情况介绍 | 第52-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 附录A 下位机主程序 | 第60-63页 |
| 附录B AD转换程序 | 第63-65页 |
| 附录C 档位与测试点选择程序 | 第65-67页 |
| 附录D 上位机数据显示部分源程序 | 第67-72页 |
| 附录E 国家标准对测试仪的规范 | 第72页 |
