| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 主要研究内容及结构安排 | 第15-16页 |
| 第2章 纳米CT系统成像原理 | 第16-23页 |
| 2.1 纳米CT成像原理 | 第16-20页 |
| 2.1.1 X射线成像基本原理 | 第16-17页 |
| 2.1.2 纳米CT成像基本原理 | 第17-20页 |
| 2.2 纳米CT重建质量影响因素 | 第20-23页 |
| 2.2.1 射线源焦点尺寸对检测结果的影响 | 第20-21页 |
| 2.2.2 平板探测器对检测结果的影响 | 第21页 |
| 2.2.3 伪像对检测结果的影响 | 第21-23页 |
| 第3章 热障涂层微观结构分析 | 第23-32页 |
| 3.1 热障涂层样品制备 | 第23-24页 |
| 3.2 热障涂层显微镜成像 | 第24-27页 |
| 3.2.1 热障涂层形貌特征分析 | 第24-25页 |
| 3.2.2 热障涂层分割与厚度测量 | 第25-27页 |
| 3.3 热障涂层能谱分析 | 第27-29页 |
| 3.4 热障涂层线衰减系数理论计算 | 第29-32页 |
| 第4章 热障涂层层状结构二维成像分析 | 第32-48页 |
| 4.1 热障涂层纳米CT成像分析 | 第32-37页 |
| 4.1.1 热障涂层高分辨(1.57μm)成像分析 | 第32-35页 |
| 4.1.2 热障涂层超高分辨率(0.99μm)成像分析 | 第35-37页 |
| 4.2 热障涂层断层图像二维分割 | 第37-46页 |
| 4.2.1 陶瓷隔热层分割原理及算法 | 第37-40页 |
| 4.2.1.1 陶瓷隔热层一维最大熵法分割 | 第37-39页 |
| 4.2.1.2 陶瓷隔热层区域生长法分割 | 第39-40页 |
| 4.2.2 基体合金的分割原理及算法 | 第40-45页 |
| 4.2.2.1 粘结层和基体交界面缺陷拟合法 | 第41-42页 |
| 4.2.2.2 热障涂层的USM滤波法 | 第42-45页 |
| 4.2.3 粘结层分割原理及算法 | 第45-46页 |
| 4.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 第5章 热障涂层纳米CT三维结构分析 | 第48-68页 |
| 5.1 热障涂层高分辨率(1.57μm)成像下结果分析 | 第48-56页 |
| 5.1.1 热障涂层三维结构分析 | 第48-49页 |
| 5.1.2 热障涂层厚度分析与测量 | 第49-52页 |
| 5.1.3 热障涂层孔隙及孔隙率分析 | 第52-56页 |
| 5.2 热障涂层超高分辨率(0.99μm)成像下结果分析 | 第56-62页 |
| 5.2.1 热障涂层三维结构分析 | 第56-57页 |
| 5.2.2 热障涂层厚度分析与测量 | 第57-59页 |
| 5.2.3 热障涂层孔隙及孔隙率分析 | 第59-62页 |
| 5.3 热障涂层不同成像分辨率结果对比 | 第62-66页 |
| 5.3.1 热障涂层三维形貌对比分析 | 第62-64页 |
| 5.3.2 热障涂层厚度测量对比分析 | 第64-65页 |
| 5.3.3 热障涂层孔隙及孔隙率对比分析 | 第65-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-68页 |
| 第6章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 总结 | 第68-69页 |
| 6.2 展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 发表论文及参与科研情况 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
