基于折射率调制效应的全光固态皮秒分辨X射线探测技术研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 高速摄影技术 | 第12-14页 |
| 1.2 惯性约束聚变 | 第14-17页 |
| 1.2.1 惯性约束聚变概述 | 第14-17页 |
| 1.2.2 惯性约束聚变诊断技术 | 第17页 |
| 1.3 新型诊断工具的需求 | 第17-22页 |
| 1.3.1 行波选通分幅相机 | 第18-20页 |
| 1.3.2 变像管条纹相机 | 第20-21页 |
| 1.3.3 全光固态探测技术 | 第21-22页 |
| 1.4 本课题的提出 | 第22-24页 |
| 1.5 本论文的工作 | 第24-28页 |
| 第2章 全光固态X射线探测器工作机理研究 | 第28-48页 |
| 2.1 X射线辐射调制效应分析 | 第28-33页 |
| 2.1.1 X射线与GaAs的相互作用 | 第28-31页 |
| 2.1.2 X射线在GaAs中的衰减 | 第31-32页 |
| 2.1.3 X射线激发载流子浓度模型 | 第32-33页 |
| 2.2 折射率调制效应分析 | 第33-46页 |
| 2.2.1 能带填充效应 | 第33-39页 |
| 2.2.2 能带收缩效应 | 第39-42页 |
| 2.2.3 自由载流子吸收效应 | 第42-43页 |
| 2.2.4 三种效应的综合效果分析 | 第43-46页 |
| 2.3 本章小结 | 第46-48页 |
| 第3章 全光固态X射线探测器的设计与特性研究 | 第48-66页 |
| 3.1 X射线调制器的设计 | 第48-55页 |
| 3.2 X射线调制器的时空分辨特性模拟 | 第55-58页 |
| 3.3 光偏转器的设计 | 第58-60页 |
| 3.4 光偏转器的时间分辨计算 | 第60-64页 |
| 3.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第4章 全光固态X射线探测器时间分辨优化研究 | 第66-92页 |
| 4.1 载流子动力学特性对时间分辨的影响 | 第66-71页 |
| 4.1.1 自由载流子的影响 | 第68-69页 |
| 4.1.2 晶格温度的影响 | 第69-70页 |
| 4.1.3 载流子复合的影响 | 第70-71页 |
| 4.2 瞬态棱镜设计的限制因素 | 第71-82页 |
| 4.2.1 非完整棱镜效应 | 第71-76页 |
| 4.2.2 棱镜阵列的反射效应 | 第76-82页 |
| 4.3 棱镜衍射和载流子扩散效应 | 第82-85页 |
| 4.4 棱镜吸收效应 | 第85-87页 |
| 4.5 色散引起的分辨率弥散 | 第87-90页 |
| 4.5.1 色散偏转效应 | 第88-90页 |
| 4.5.2 二阶色散效应 | 第90页 |
| 4.6 泵浦光的非一致性 | 第90-91页 |
| 4.7 本章小结 | 第91-92页 |
| 第5章 全光固态X射线探测器的制备及性能测试 | 第92-114页 |
| 5.1 器件的制备 | 第92-102页 |
| 5.1.1 外延材料的生长 | 第92-95页 |
| 5.1.2 X射线调制器的制备 | 第95-97页 |
| 5.1.3 光偏转器的制备 | 第97-102页 |
| 5.2 实验系统的构建 | 第102-105页 |
| 5.2.1 光学测试平台的建立 | 第102-104页 |
| 5.2.2 CCD记录系统的建立 | 第104-105页 |
| 5.3 全光固态探测器原理验证实验 | 第105-113页 |
| 5.3.1 X射线调制器验证实验 | 第106-108页 |
| 5.3.2 光偏转器扫描实验 | 第108-110页 |
| 5.3.3 AOSXD系统性能测试与分析 | 第110-113页 |
| 5.4 本章小结 | 第113-114页 |
| 第6章 总结与展望 | 第114-118页 |
| 6.1 全文总结 | 第114-115页 |
| 6.2 下一步工作展望 | 第115-118页 |
| 参考文献 | 第118-126页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第126页 |
