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鲜杏表面缺陷的高光谱成像检测研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第11-19页
    1.1 研究背景及意义第11-12页
    1.2 无损检测技术概述第12-13页
    1.3 国内外研究现状第13-16页
        1.3.1 国外高光谱成像技术在水果外部品质检测方面研究现状第13-14页
        1.3.2 国内高光谱成像技术在水果外部品质检测方面研究现状第14-16页
    1.4 研究目标、内容及技术路线第16-18页
        1.4.1 研究目标第16页
        1.4.2 研究内容与方法第16-17页
        1.4.3 技术路线第17-18页
    1.5 本章小结第18-19页
第二章 试验材料、仪器与方法第19-32页
    2.1 鲜杏高光谱图像采集第19-21页
        2.1.1 鲜杏样本第19页
        2.1.2 高光谱成像原理第19-20页
        2.1.3 鲜杏高光谱采集系统第20-21页
        2.1.4 鲜杏高光谱图像校正第21页
        2.1.5 鲜杏高光谱图像裁剪第21页
    2.2 光谱数据预处理方法第21-23页
        2.2.1 平滑法第21-22页
        2.2.2 多元散射校正第22-23页
        2.2.3 标准正态变量校正第23页
    2.3 数据降维方法第23-24页
        2.3.1 主成分分析第23-24页
        2.3.2 最小噪声分离第24页
    2.4 模式识别方法第24-27页
        2.4.1 支持向量机第24-25页
        2.4.2 BP神经网络第25-26页
        2.4.3 偏最小二乘判别第26-27页
    2.5 高光谱图像处理方法第27-29页
        2.5.1 图像预处理第27页
        2.5.2 图像波段比运算第27页
        2.5.3 边缘检测第27-28页
        2.5.4 形态学运算第28-29页
    2.6 工具软件第29-31页
    2.7 本章小结第31-32页
第三章 基于光谱信息的鲜杏缺陷判别第32-39页
    3.1 感兴趣区域提取与光谱数据分析第32-33页
    3.2 光谱数据预处理第33页
    3.3 最优预处理方法选择第33-34页
    3.4 特征波段选择第34-35页
    3.5 光谱数据判别分析第35-38页
        3.5.1 特征波段与全波段的SVM识别对比第35-36页
        3.5.2 特征波段与全波段的PLS-DA识别对比第36-37页
        3.5.3 特征波段与全波段的BP神经网络分类识别效果比较第37-38页
    3.6 本章小结第38-39页
第四章 基于图像信息的鲜杏缺陷判别第39-48页
    4.1 缺陷鲜杏和正常鲜杏的光谱特征第39页
    4.2 主成分分析第39-41页
        4.2.1 全波段PCA第39-40页
        4.2.2 特征波段PCA第40-41页
    4.3 最小噪声分离第41-43页
        4.3.1 全波段MNF第41-42页
        4.3.2 特征波段MNF第42-43页
    4.4 PCA与MNF缺陷识别结果对比第43-45页
    4.5 图像波段比运算第45-46页
    4.6 本章小结第46-48页
第五章 结论与展望第48-50页
    5.1 结论第48-49页
    5.2 展望第49-50页
参考文献第50-53页
致谢第53-54页
作者简介第54-55页
石河子大学硕士研究生学位论文导师评阅表第55页

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